Gebraucht MDC CSM/16 #9410485 zu verkaufen

ID: 9410485
Measurement system.
MDC CSM/16 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für zuverlässige, hochpräzise Messungen von Wafern verschiedener Größen und Materialien entwickelt wurde. Dieses Gerät ist in der Lage, eine Reihe von Parametern in Bezug auf Wafer elektrische, physikalische und chemische Eigenschaften zu messen. Das CSM/16 ist mit einem automatisierten Texterkennungsmodul ausgestattet, das präzise Ablesungen von geätztem oder gedrucktem Text auf der Oberfläche der Probe ermöglicht. Das System ist mit einer integrierten dreiachsigen, lufttragenden Messer-Kanten-Wafer-Messstufe und einem fortschrittlichen AutoGage-Scanner ausgestattet. Die Stufe ist für eine präzise Waferplatzierung ausgelegt, um die Parameter genau zu messen. Der AutoGage Scanner verwendet einen linearen Verstelltransformator (LVDT) zur ultrapräzisen Detektion und Messung der Oberflächentopographie der Probe. Das CSM/16 bietet auch eine patentierte vollautomatische Metrologie-Einheit (FAM), die in der Lage ist, verschiedene Eigenschaften wie kritische Abmessungen, Profilradius, Ebenheit, Textur, Winkel und Foliendicke automatisch zu messen. Diese Maschine ist mit einem Vision-Modul und hochauflösenden Linearsensoren integriert und bietet präzise Messungen ohne manuellen Eingriff. Darüber hinaus bietet das CSM/16 ein hochauflösendes Bildgebungswerkzeug, mit dem Benutzer Stempel-zu-Stempel-Muster analysieren und messen sowie Defekte oder degradierte Bereiche identifizieren können. Diese Bilderzeugungsanlage ist mit einer Digitalkamera, einem Fluintesent-Imaging-Domcile, einer Laserlichtquelle und einem Vision-Prozessor ausgestattet. MDC CSM/16 verfügt über ein optisches Mikroskop-Feature, das digital genähte Bilder mit hoher Auflösungsfähigkeit und einer Reihe von Vergrößerungsgraden bietet, sodass sich der Bediener genau auf Qualitätskontroll- oder Inspektionsziele konzentrieren kann. Es ist in der Lage, Bilder zu intensivieren und bietet einen höheren Kontrast und Auflösung. Es enthält auch einen fortgeschrittenen Zusammensetzungsanalysator Modul, der Energie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) verwendet, um die Zusammensetzung und Konzentration der Elemente in der Probe zu beurteilen. In Bezug auf die Steuerungssoftware bietet die CSM/16 eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI). Dieses Programm ermöglicht die einfache Bedienung des Modells und bietet Zugriff auf Messbefehle, Einrichtungsmenüs und Online-Hilfe. Die GUI ermöglicht es dem Benutzer auch, die gemessenen Daten zu berechnen, zu speichern und anzuzeigen. Insgesamt ist MDC CSM/16 eine umfassende Wafer-Prüf- und Messtechnik für eine zuverlässige elektrische, physikalische und chemische Analyse von Wafern. Es enthält erweiterte Funktionen wie das FAM, das integrierte Bildgebungssystem und das optische Mikroskop, mit denen Benutzer präzise und genaue Messungen erzielen können. Das Gerät bietet auch einfache Bedienung mit seiner freundlichen GUI, so dass Benutzer das Gerät mit Leichtigkeit einrichten und bedienen können.
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