Gebraucht MDC CSM #77224 zu verkaufen

MDC CSM (Model Driven Control Chip Equipment Metrology) ist ein Wafer-Test- und Messtechnik-System, das von EWI Advanced Metrology & Manufacturing Technology entwickelt wurde. Diese Einheit ist eine fortschrittliche Präzisions-Messtechnik-Plattform, bestehend aus einem integrierten programmierbaren Messtechnik-Messtechnik-Arm, Pilotinspektion und automatisierter Prozesssteuerungssoftware sowie Bildanalyse und Messbibliothek-Tools. Der Messtechnikarm der Maschine besteht aus einem robusten statischen und dynamischen 5-Achsen-Koordinatenwerkzeug mit hoher Vielseitigkeit für Datenerfassung und -steuerung (DAC). Die Pilotinspektionsanlage hingegen soll dem Anwender dabei helfen, Zugriff auf die Prozessdatenmetriken, die Performance der Testplattform und eine umfassende Prozesskontrolle zu erhalten. Mit seinen hochmodernen Komponenten bietet das Modell eine zuverlässige und hochpräzise Lösung für Wafer-Prüf- und Messanwendungen. Der DAC-Mechanismus (Data Acquisition Control) ermöglicht es Benutzern, die Abtastgeschwindigkeit und -richtung des Tastkopfes über die Oberfläche des Wafers zu steuern. Dies hilft, zuverlässige Messungen zu erhalten, die für die weitere Analyse und Verarbeitung verwendet werden. Das System umfasst auch einen automatischen Scanmechanismus, der dem Benutzer weitere Flexibilität bietet, indem er die Schrittgröße definiert und programmiert. CSM-Einheit verfügt auch über ein erweitertes Tool zur Bildanalyse-Bibliothek. Diese Bibliothek ist mit automatisierten Bildanalyse- und Messwerkzeugen sowie bildbasierten Objekterkennungs- und Auswertungsalgorithmen ausgestattet. Diese Funktionen ermöglichen es Benutzern, Testergebnisse automatisch auszuwerten und kritische Messungen schnell und genau zu erhalten; Verkürzung der Zeit, die erforderlich ist, um zuverlässige Daten zu erhalten. Darüber hinaus bietet die Maschine verschiedene Software, um Messungen zu extrahieren und genau auf CAD-Modelle abzubilden. Darüber hinaus ermöglicht die automatisierte Prozesssteuerungssoftware den Anwendern, das Tool schnell für verschiedene Waferprozesse zu programmieren sowie kundenspezifische Testprotokolle zu entwerfen. Schließlich verfügt das Asset über umfangreiche Tools für das Datenmanagement und die statistische Analyse, die sowohl aktuelle als auch zukünftige Anforderungen an die Datenanalyse unterstützen. Insgesamt ist MDC CSM ein umfassendes Wafer-Test- und Metrologiemodell, das den Anwendern robuste Datenerfassungs- und Steuerungsfunktionen bietet. Mit seinen hochmodernen Komponenten bietet diese Ausrüstung überlegene Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Vielseitigkeit, um eine breite Palette von Wafer-Prüf- und Messanwendungen zu unterstützen.