Gebraucht MDC SEN-576 #9104438 zu verkaufen

MDC SEN-576 Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine hochpräzise Messtechnik-Plattform zur Durchführung fortschrittlicher Wafer-Tests und Messtechnik. Es kombiniert mehrere spezialisierte Messtechnologien wie eine 6-Punkte-Sonde, SEM-Bildanalyse und Röntgenbeugungsanalyse in einem einzigen Instrument. SEN-576 besteht aus einem Mehrkammersystem mit einer einen Manipulator, einen Scanner und eine Stufe enthaltenden Hauptkammer und drei weiteren Kammern zur Aufnahme eines elektrischen Prüfmechanismus, einer optischen Zeichenerkennungseinheit und einer Datenerfassungsmaschine. Der Manipulator der Hauptkammer ist roboterartig und zielgerichtet für eine präzise und effiziente Probenplatzierung ausgelegt, wodurch Schäden an der Waferprobe während des Prüfvorgangs minimiert werden. Der in das Werkzeug integrierte Scanner ist auch Roboter und kann verwendet werden, um verschiedene Waferbereiche mit genauer Wiederholbarkeit abzubilden. Die Stufe der Hauptkammer ist eine motorisierte Einheit mit hoher Präzision und Beschleunigungskapazität in X- und Y-Richtung, die die genauen Koordinaten von Waferproben und Wiederholbarkeit für verschiedene Messungen erfassen kann. Die in die zweite Kammer von MDC SEN-576 integrierte elektrische Testanlage besteht aus mehreren Sonden und elektrischen Messgeräten. Dieses Modell ist mit einer 6-Punkt-Sonde ausgestattet, die ein spezifisches Kontakt-Messtechnik-Tool ist. Es ist nützlich für die Messung von elektrischen Eigenschaften auf einer breiten Palette von Waferproben, wie Widerstand, Stromleckage und dielektrischer Durchbruch. Das OCR-Gerät in der dritten Kammer dient zur Algorithmuserkennung. Schließlich verfügt die vierte Kammer über ein Datenerfassungs- und Steuerungssystem mit einem digitalen Signalprozessor (DSP) und einer speziellen Software. Diese Einheit ermöglicht die Echtzeit-Datenerfassung und -analyse, so dass Wafer-Proben automatisiert getestet werden können. Zusammenfassend ist SEN-576 Wafer Testing and Metrology Machine eine Mehrkammer-Plattform zur Messung der elektrischen Eigenschaften, optischen Merkmale und Form von Wafern. Die Plattform verfügt über einen Manipulator, einen Scanner und eine Bühne in der Hauptkammer, eine 6-Punkte-Sonde, ein DSP-basiertes Datenerfassungswerkzeug mit spezieller Software, ein OCR-Asset und andere Komponenten. Die modulare und Roboterarchitektur von MDC SEN-576 gewährleistet eine fortschrittliche und genaue Prüfung von Halbleiterscheiben auf zuverlässige und wiederholbare Weise.