Gebraucht MICRO-TEC Z-CHECK 500 #9010808 zu verkaufen

ID: 9010808
Non-contact thickness measuring system Measuring range: 10mm On screen images Features: (3) micron typical accuracy in Z axis measurement White light source Granite base Monochrome monitor Specifications: Magnification: x50. Options available Digital readout: 0.001mm (0,0001inch) Projector lamp: 6V. 1.2 Amp. Tungsten Surface illuminator: 6V. 1.2 Amp. Tungsten Max sample height: 10mm (0,4 inch) Throat depth: 240mm (9.5 inch) Granite base size: 500mm x 500mm (20 x 20 inch) CTV: 1/3” CCD Camera: 9” monochrome monitor Power: 240V AC 50/60Hz. - 110V AC 50/60Hz. (optional).
MICRO-TEC Z-CHECK 500 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für modernste Wafer-Manipulations- und Messtechniken entwickelt wurde. Das System nutzt patentierte Technologien, die sowohl kompakt als auch leicht sind, so dass es für eine breite Palette von Benutzern zugänglich ist. Sein robustes Design bietet exzellente Genauigkeit und Zuverlässigkeit und liefert bei jedem Test präzise Ergebnisse. Z-CHECK 500 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit ist eine modulare Maschine, die 12 Zoll oder 5 Zoll Wafer testen kann, mit einer maximalen Dicke von 7mm. Das Werkzeug kann eine Vielzahl von Eigenschaften messen, einschließlich Filmdicke und Zelldichte, sowie komplexere Eigenschaften wie Ungleichmäßigkeit, Topographie und Overlay. Der präzise Einsatz von Optik gibt dem Asset die Möglichkeit, Wafer von der Rückseite aus zu messen, ohne dass ein Substrathalter erforderlich ist. Das Modell verfügt über eine Vielzahl von Funktionen, wie die Sondenstation, die den Testwafer an Ort und Stelle hält und eine Bewegungssteuerung bietet, eine Wafer-Handler-Einheit zum Freigeben des Wafers und die Anzeigeeinheit zur Datenvisualisierung. MICRO-TEC Z-CHECK 500 enthält auch ein Advanced Wafer Metrology Kit, das ein leistungsfähiges und dennoch benutzerfreundliches Tool ist, das mit einer Vielzahl von Mapping- und Messanwendungen geliefert wird. Dieses Kit ermöglicht es Benutzern, eine breite Palette von Parametern und Bedingungen zu definieren, wodurch Z-CHECK 500 die Möglichkeit bietet, eine Vielzahl von mikrostrukturierten Oberflächenmerkmalen zu messen. Das Gerät bietet Anwendern zudem eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI). Die GUI bietet eine Vielzahl von praktischen Tools, einschließlich eines intuitiven Dropdown-Menüs, mit dem Benutzer das benötigte Tool schnell finden können. Mit dieser Funktion können Benutzer auch gespeicherte Daten sowie Diagnosen, Verfahren und Testergebnisse anzeigen. MICRO-TEC Z-CHECK 500 Wafer-Prüf- und Messtechnik-System ist ein Must-Have-Gerät für diejenigen, die ihre Wafer-Analyse auf die nächste Ebene zu heben. Das mit fortschrittlichen Funktionen gebaute Gerät bietet präzise und zuverlässige Ergebnisse für selbst komplexeste Messungen.
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