Gebraucht MICROTRAC S3500 #9215363 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9215363
Weinlese: 2010
Micron particle counter system
With computer
Power cord
Tri-laser system
Particle size: 0.02 to 2800 microns
Standard range: Wet: 0.24 to 1400 um
Precision:
CV = 0.7% Spherical glass beads D50 = 642 micron
CV = 1.0% Spherical glass beads D50 = 56 micron
CV = 0.6% Spherical latex beads D50 = 0.4 micron
Lasers: Wavelength 780 nm
Power: 3 mW Nominal
Detection system: (2) Fixed photo-electric detectors
With logarithmically spaced segments
Optimal scattered light detection
0.02-163 Degrees using (151) detector segments
Data handling:
Data storing format: ODBC
Encryption: Microsoft access databases
Data integrity: FDA 21 CFR Part 11
Typical analysis time: 10 to 30 seconds
Environmental:
Temperature: 10 to 35°C
Humidity: 90% RH
Maximum storage temperature: -10° to 50° C
Pollution: Degree 2
Physical case: Steel and impact resistant plastic
Exterior surfaces: Corrosion resistant paint or plating
Dry operation: 100 psi (689 kPa)
Maximum pressure 5 CFM at 50 psi (345 kPa)
Minimum flow rate
Moisture / Oil
Vacuum: Exceed 50 CFM
Power:
AC Input: 90-132 VAC, 1 Phase, 47 to 63 Hz
200 to 265 VAC, 1 Phase, 47 63 Hz
Power consumption: 10 to 30 Seconds
2010 vintage.
MICROTRAC S3500 ist eine leistungsstarke und vielseitige Wafer-Prüf- und Messtechnik für die Halbleiterindustrie. Es ist für Hochgeschwindigkeits-Vollwafermessungen von Punkt-, Linien- und Rahmenscans auf Wafern von 2 „bis 8“ konzipiert. Das System nutzt fortschrittliche optische Technologie kombiniert mit anspruchsvoller Bildverarbeitung für verbesserte Messungen. MICROTRAC S 3500 verfügt über eine Vielzahl von Werkzeugen, einschließlich einer Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit, Fehlerinspektion und -überprüfung und Wafer-Prozessüberwachung. Das Hauptaugenmerk von S3500 liegt auf der Charakterisierung sehr spezifischer elektrischer Eigenschaften von Standard- und fortgeschrittenen Substraten und Materialien wie Widerstand, Beweglichkeit und Kapazität. Zusätzlich kann S 3500 die Oberfläche und Dicke von Wafern messen sowie subtile Defekte und Variationen identifizieren. Die Maschine kann genaue Daten zur Waferqualität sowie zusätzliche Zusammenfassungen wie Prinzipkomponenten, Cluster und Regressionen generieren. Die erweiterte Benutzeroberfläche verfügt über eine breite Palette von anpassbaren Optionen für Bediener, die eine vollständige Anpassung des Tools ermöglichen. MICROTRAC S3500 bietet auch Diagnosefunktionen zur schnellen Abbildung eines Wafermusters oder einer Struktur. Dies beinhaltet die Fähigkeit, zwischen zwei Arten von Defekten zu unterscheiden, die auf einem Wafer gefunden werden können. Darüber hinaus bieten die Visualisierungsoptionen komfortable Bildgebungsfunktionen sowie die Möglichkeit, Karten von zwei verschiedenen Wafern zu vergleichen, um kritische Prozessunterschiede zu identifizieren. Schließlich bietet das Asset eine automatisierte Messung des gesamten Wafers mithilfe statistischer Prozesssteuerungsalgorithmen, um Prozessvariationen zu definieren und zu analysieren. Im Vergleich zu anderen verfügbaren Technologien bietet MICROTRAC S 3500 den höchsten Durchsatz für Wafertests und Messtechnik. Die modernsten optischen Technologien des Modells bieten überlegene Genauigkeit und die fortschrittlichen Bildverarbeitungsalgorithmen liefern schnelle und genaue Ergebnisse. Die Geräte sind einfach zu installieren, zu warten und zu konfigurieren und bieten eine erschwingliche Lösung für alle Anforderungen an Wafertests und Messtechnik.
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