Gebraucht MICROTRAC S3500 #9215422 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9215422
Weinlese: 2006
Micron particle counter system
With sample delivery system
Tri-laser system
Particle size: 0.02 to 2800 microns
Standard range: Wet: 0.24 to 1400 um
Ranges (Wet, dry)
Basic: 0.7-1000 um, 0.7-1000 um
High: 2.75-2800 um, 2.75-2800 um
Standard : 0.24-1400 um, 0.24-1400 um
Special : 0.086-1400 um , 0.24-1400 um
Extended: 0.021-2000 um, 0.24-2000 um
Enhanced: 0.021-2800 um, 0.24-2800 um
Precision:
CV=0.7%, Spherical glass beads D50: 642 micron
CV=1.0%, Spherical glass beads D50: 56 micron
CV=0.6%, Spherical glass beads D50: 0.4 micron
Lasers: Wavelength 780 nm
Power: 3 mW Nominal
Detection system: (2) Fixed photo-electric detectors
Optimal scattered light detection
0.02-163 degrees using (151) detector segments
Data handling:
Data storing format: ODBC
Encryption: Microsoft access databases
Data integrity: FDA 21 CFR Part 11
Typical analysis time: 10 to 30 seconds
Environmental:
Temperature: 10° C-35°C
Humidity: 90% RH
Storage temperature: -10° C-50° C
Pollution: Degree 2
Physical case: Steel and impact resistant plastic
Exterior surfaces: Corrosion resistant paint / Plating
Dry operation:
Maximum pressure: 100 psi
Minimum flow rate: 5 CFM-50 psi
Free of dry contaminants
Moisture / Oil
Vacuum: Exceed 50 CFM
Includes:
Computer
Power cord
Cables
Power
AC Input: 90-132 VAC, 1 Phase, 47 - 63 Hz
200-265 VAC, 1 Phase 47 63 Hz
Power consumption: 10-30 Seconds
2006 vintage.
MICROTRAC S3500 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die zur Analyse von Halbleiterscheiben entwickelt wurde, um sicherzustellen, dass sie den Standards und Erwartungen der Herstellung entsprechen. Es wurde speziell für die Anforderungen der Wafermesstechnik entwickelt und bietet eine zuverlässige, hochpräzise Lösung, um alle notwendigen Tests abzuschließen. MICROTRAC S 3500 verwendet fortschrittliche Laserabtasttechniken, die mehrere Parameter erfassen, einschließlich elektrischer Eigenschaften wie Leitfähigkeit, optische Eigenschaften wie Durchlässigkeit und strukturelle Parameter wie Abheben und Schritthöhen. Die eingebaute Hardware von S3500 ermöglicht einen effizienten und zuverlässigen Testprozess. Es besteht aus einem Abtastkopf mit einem dreiachsigen Spiegelsystem, das für optimale Scanleistung und Winkelauflösung einstellbar ist. Dies wird unterstützt durch ein optisches Objektiv für den Abtastkopf zur Aufnahme von Bildern, zusammen mit der notwendigen Steuerelektronik. Darüber hinaus bietet das Gerät eine Vielzahl von softwarebasierten Modulen, mit denen der Anwender die gesammelten Testdaten schnell und genau analysieren kann. S 3500 verfügt über eine Hauptsteuereinheit und eine grafische Benutzeroberfläche mit kompatibler Software für Windows-Betriebsmaschinen. Es wurde entwickelt, um maximalen Messbereich, Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu bieten, um die Geschwindigkeit des Wafer-Prüfprozesses zu verbessern. Das Werkzeug ist auch mit einem Geometrie-Scan-Modul und automatisierter Maskierungstechnologie ausgestattet, um negative Ergebnisse aufgrund des Maskierungsprozesses zu vermeiden. Dies garantiert genaue Ergebnisse, die direkt mit vorhergehenden oder nachfolgenden Scans verglichen werden können. MICROTRAC S3500 ist auch in der Lage, Daten von mehreren Sensoren gleichzeitig zu sammeln, was genauere Testergebnisse ermöglicht. Darüber hinaus umfasst es leistungsstarke messtechnische Fähigkeiten wie zwei- und dreidimensionale Bildgebung, Spotmapping, Bestimmung kritischer Dimensionen (CD) und Messungen physikalischer Eigenschaften in Dünnschicht. Neben automatisierten Hard- und Softwarelösungen bietet MICROTRAC S 3500 auch erweiterte Service- und Supportmöglichkeiten. Die Anlage wird mit Schulung vor Ort, Webinaren, Software-Updates, 24/7-Hotline-Service und Engineering-Serviceverträgen für die bestmögliche Nutzung des Modells durch den Benutzer geliefert. Darüber hinaus werden die Geräte regelmäßig gewartet, um maximale Leistung und Genauigkeit der Testergebnisse zu gewährleisten. Insgesamt ist S3500 ein zuverlässiges und benutzerfreundliches Wafertest- und Metrologiesystem, das die Kosten senken, die Effizienz steigern und die Qualität der Wafer sicherstellen soll. Die integrierten Funktionen und die Qualitätssicherung machen es zu einer idealen Wahl für industrielle Wafer-Tests und -Analysen.
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