Gebraucht MILLBROOK MiniSIMS #9097796 zu verkaufen

MILLBROOK MiniSIMS ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für fortgeschrittene Halbleiter-Prozesssteuerungsanwendungen. Das System ermöglicht eine schnelle, genaue und zuverlässige Auswertung von Halbleiterscheiben und Einzelgeräten. Dieses leistungsstarke Messtechnik-Tool ist mit einem fortschrittlichen Rasterelektronenmikroskop (SEM) sowie einer Vielzahl von Optionen und Zubehör ausgestattet, um die Bedürfnisse jedes Kunden zu erfüllen. Das Gerät bietet einen beispiellosen Durchsatz für die gleichzeitige Prüfung einzelner Wafer oder einer Charge von Wafern. Es ist in der Lage, mehrere analytische und Bilderfassungsoperationen mit mehreren Detektoren durchzuführen, die die Integration von Daten aus dem SEM, der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) und der Bildgebung ermöglichen. MiniSIMS widmet sich der Analyse von Bauelementschichten, Schnittstellen und Defekten in allen Arten von Halbleiter- und optoelektronischen Bauelementen mit einer Vielzahl spezialisierter Bildaufnahmetechniken. MILLBROOK MiniSIMS Maschine bietet genaue Analyse einer breiten Palette von modernen Bauelementstrukturen, einschließlich Transistoren, Dioden, MOSFETs und optoelektronischen Bauelementen. Es ermöglicht Benutzern, Bilder mit verschiedenen Vergrößerungen basierend auf den Parametern des Wafers zu erfassen. Die Informationen aus diesen Bildern können dann verwendet werden, um die Qualität der Struktur zu bewerten, Fehler zu lokalisieren und die Prozessparameter auf optimale Leistung einzustellen. Es bietet auch eine hochgenaue Mustererkennung Dienstprogramm, das schnell erkennt Fehlertypen wie Maske Shorts, Überbrückung, Isolationswerte, und kurze Hosen ohne die Notwendigkeit einer manuellen Interaktion. Das Tool ist mit dem neuesten Siemens-Kulite EDS-Asset ausgestattet, das die analytischen Fähigkeiten des Modells verbessert. Es ermöglicht eine chemische und strukturelle Analyse von Geräten mit einer hohen Geschwindigkeit, die zu einer verbesserten Effizienz, Flexibilität und schnelleren Reaktionszeiten beiträgt. Darüber hinaus ermöglicht das Gerät den Anwendern die Nutzung adaptiver Rauschfilterung und ausgeklügelter Bildverarbeitungsalgorithmen. Insgesamt ist das MiniSIMS-System eine ideale Lösung für fortschrittliche Prozesskontrollanwendungen und bietet Kunden die hochgenaue Analyse, die für eine effektive Geräteprüfung und Messtechnik erforderlich ist. Diese Einheit bietet Anwendern eine zuverlässige Auswertung von Halbleiterwafern und einzelnen Geräten mit einer hohen Präzision und einem hohen Durchsatz, die marktführende Systeme kaum anpassen können.