Gebraucht MITUTOYO SJ-210 #9245762 zu verkaufen

MITUTOYO SJ-210 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung ist entworfen, um genaue messtechnische Messungen für alle Stufen der Halbleiterbauelemententwicklung zur Verfügung zu stellen. Es kann zur Messung von Wafern vor und nach dem Ätzen oder Ablegen in Fertigungsprozessen sowie zur abschließenden Prozessinspektion und Qualitätskontrolle verwendet werden. Das System wurde entwickelt, um mit einer Reihe von Wafergrößen von 25mm bis 200mm zu arbeiten. Es verfügt über eine berührungslose Vision-Einheit mit Multi-Point-Scan-Funktionen für verbesserte Genauigkeit und Wiederholbarkeit. SJ-210 verwendet eine zweiachsige Stufe, die Wafer bis zu einer Größe von 589 mm abstützen kann und einen Bewegungsbereich von X = 125 mm und Y = 300 mm aufweist. Die Maschine verfügt über einen integrierten Hochleistungs-6-Achsen-Roboter für die Probenhandhabung und kann sowohl Standard- als auch kundenspezifische Handhabungsvorrichtungen aufnehmen. MITUTOYO SJ-210 Werkzeug hat auch eine hochauflösende CCD-Kamera und eine 4-Achsen-manuelle Stufen für die Positionierung und Feinabstimmung Messgenauigkeit. Das Asset verfügt über eine Reihe von Messwerkzeugen, die digitale Bildgebung, Oberflächenprofilierung, berührungslose Messungen und Mustererkennung umfassen. Für berührungslose Messungen verwendet das Modell ein Laserinterferometer für Verschiebungs-, Vibrations- und Beschleunigungsmessungen. Es enthält auch eine Vielzahl von Messsonden für Verformungsmessungen. SJ-210 ist in der Lage, Muster von Trapezoiden, Rechtecken, Bögen, Kreisen und anderen Formen zu erkennen und zu plotten, um Ingenieuren und Wissenschaftlern zu helfen, Kanten- oder Oberflächenprofile entsprechend zu messen und zu analysieren. Darüber hinaus kann die Ausrüstung mehrere Eigenschaften eines Wafers wie Gesamtgröße, Dicke, Oberflächenrauhigkeit, Schritthöhe und Ebenheit messen. MITUTOYO SJ-210 Wafer-Prüf- und Messtechnik-System bietet Anwendern ein effizientes und vielseitiges Werkzeug zur Durchführung der Messtechnik und Prozessinspektion. Die Reihe von Messwerkzeugen ermöglicht es Ingenieuren und Wissenschaftlern, schnelle und genaue Messungen an einer Vielzahl von Wafergrößen durchzuführen und einen umfassenden Einblick in die Waferbearbeitung zu gewähren.