Gebraucht MITUTOYO SJ-301 #293616958 zu verkaufen

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ID: 293616958
Weinlese: 2004
Surface roughness meter 2004 vintage.
MITUTOYO SJ-301 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Messung anspruchsvoller Merkmale auf Halbleiterscheiben und anderen großen Oberflächen. Das System ist in der Lage, große Wafer zu scannen und die Form, Größe, Höhe und andere Merkmale ihrer Komponenten zu messen. Die Einheit kann auch elektrische Parameter wie Widerstand, Kapazität und Induktivität messen. Die Maschine ist mit einem ultrahohen CCD-basierten Inspektionssensor ausgestattet, der ein hochpräzises und schnelles Messen auf verschiedenen Oberflächen ermöglicht. Der Sensor ist mit mehreren Kameras ausgestattet und eignet sich somit für die Messung extrem kleiner Flächen mit einer Auflösung von weniger als 100 Nanometern. Das Werkzeug ist auch mit einer fortschrittlichen Messtechnik-Lösung ausgestattet, die extrem kleine Abstände messen kann, ohne sich auf ein mechanisches Lineal zu verlassen. SJ-301 bietet auch eine 3D Virtual Tracking Routine, die das Scannen beliebiger Oberflächen mit hoher Genauigkeit ermöglicht. Die Anlage ist aufgrund ihrer erhöhten Genauigkeit und Präzision ideal für viele Halbleitermessungen. Es wird auch zur Kalibrierung und Reinigung von Maschinen, zur Prozessüberwachung und sogar zur automatisierten 3D-Analyse verwendet. Darüber hinaus kann MITUTOYO SJ-301 als Scangerät zum Messen von Maskenformen verwendet werden. Um genaue Messungen zu gewährleisten, ist das Modell mit einer mehrachsigen Vektormessoption ausgestattet. Diese Funktion ermöglicht schnellere Messungen und Echtzeit-Feedback. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine automatische Einstellfunktion, die es erlaubt, sich auf das Material einzustellen und an unterschiedliche Höhen und Winkel anzupassen. Darüber hinaus macht die fortschrittliche grafische Benutzeroberfläche das System einfacher zu bedienen, sodass auch Nicht-Experten präzise Messungen vornehmen können. SJ-301 ist eine ideale Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit zur Herstellung von hochpräzisen und qualitativ hochwertigen Messungen großer Flächen in einer Vielzahl von Branchen. Seine Genauigkeit, Geschwindigkeit und Benutzerfreundlichkeit machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug für viele Halbleiteranwendungen.
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