Gebraucht MITUTOYO SJ-401 #84570 zu verkaufen

MITUTOYO SJ-401 Wafer Prüf- und Messtechnik Ausrüstung ist eine fortschrittliche Wafer Inspektion und Messung Lösung. Es ist in der Lage, erstklassige Ergebnisse zu einem Bruchteil der Kosten für anspruchsvollere Messtechnik-Systeme zu erzielen. Das System verwendet ein automatisiertes optisches Mikroskop und eine fortschrittliche Bildverarbeitungssoftware, um die Analyse von Wafern zu automatisieren, beginnend mit der visuellen Inspektion von Wafermarkierungen und der weiteren Bewegung durch elektrische und optische Eigenschaften des Wafers. Darüber hinaus bietet SJ-401 Messsoftware eine Analyse der Geometrie kritischer Maße und der Reproduzierbarkeit von Referenzebenen sowie die automatische Sortierung verdächtiger Pakete. MITUTOYO SJ-401 kombiniert hohe Auflösung (1,4 μ m, 10 μ m) und Prozessgeschwindigkeit (bis zu 3000 Chips/s) mit einer Vielzahl von Funktionen, die es zu einem der fortschrittlichsten Systeme auf dem Markt machen. Es ist mit einer leistungsstarken CCD-Kamera mit einer breiten Palette von einstellbaren Parametern ausgestattet, die eine genaue Inspektion und Messung von Wafern ermöglicht. Die Software kann auch die geringsten Fehler erkennen, mit einer minimal erkennbaren Fehlergröße von 200nm, was deutlich verbesserte Geräteerträge liefert. Das Gerät ist kompatibel mit einer Vielzahl von branchenüblichen Formaten, einschließlich JEDEC-, DVM- und SPC-Messungen. Es unterstützt auch schnelle Datenübertragung und integrierte Echtzeit-Displays. Mit seiner einfach zu bedienenden, benutzerfreundlichen grafischen Oberfläche ist SJ-401 ideal für eine breite Palette von Bedienern, von Anfängern bis zu erfahrenen Technikern. Abschließend ist MITUTOYO SJ-401 eine fortschrittliche und kostengünstige Lösung für die Waferinspektion, Messung und Analyse. Es bietet eine breite Palette von Funktionen, einfach zu bedienende Benutzeroberfläche und Unterstützung für eine Vielzahl von branchenüblichen Formaten, so dass es die perfekte Maschine für traditionelle und moderne Wafer-Messtechnik.