Gebraucht MITUTOYO SJ-401 #9292736 zu verkaufen

MITUTOYO SJ-401 ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für eine schnelle, genaue und automatisierte Qualitätskontrolle von Halbleiterscheiben entwickelt wurde. Es eignet sich für den Einsatz in Fertigungs- und Entwicklungslabors sowie für Forschung und Waferfertigung. Das System bietet umfassende Funktionen für alle Aspekte der Waferprocessing, einschließlich Massentests, 3D-Messung, Verzerrungsauswertung und Fehleranalyse. Als Anwender können Sie die leistungsstarken Algorithmen und die intuitive Benutzeroberfläche des Geräts nutzen, um den Prozess der Waferqualitätsanalyse zu automatisieren und die Einhaltung internationaler Standards durch Wafer sicherzustellen. SJ-401 verfügt über eine optimierte optische Maschine, die erweiterte 3D-Messungen liefert. Das Werkzeug kann das Höhenprofil, den Abstand zwischen den KEs messen und auch feine Texturen bis zu 1 µm unterscheiden. Das Asset umfasst eine große, hochauflösende Kamera, die eine detaillierte Bildgebung zur weiteren Analyse der gesammelten Daten bietet. Das Modell umfasst auch eine breite Palette automatisierter Werkzeuge, wie geometrische und Verzerrungsmessungen. Diese automatisierten Werkzeuge ermöglichen es Anwendern, die geometrischen Eigenschaften von Wafern schnell und genau zu messen und die Verzerrungsparameter des Wafers auszuwerten. Darüber hinaus kann die Ausrüstung eine Vielzahl von Defekten erkennen, wie Kratzer, Kontamination und Risse, die helfen können, die Ursache des Versagens zu identifizieren. Um die Analyse und Berichterstattung zu erleichtern, verfügt MITUTOYO SJ-401 auch über Software, die umfassende Berichte über die Ergebnisse von Tests und Messungen erstellen kann. Die Software integriert sich in mehrsprachige SPC/QC-Software, die ein effizientes Qualitätsmanagement ermöglicht. Dadurch werden Zeit und Ressourcen für die Analyse der Testergebnisse reduziert. Kurz gesagt, SJ-401 ist ein leistungsfähiges, automatisiertes Wafer-Test- und Messtechnik-System, das es Anwendern ermöglicht, die Qualität von Halbleiterscheiben schnell und genau zu analysieren. Es bietet verschiedene erweiterte Funktionen, darunter eine hochauflösende Kamera, automatisierte Messwerkzeuge und Multiprotokol-Berichtssoftware. Damit ist MITUTOYO SJ-401 eine ideale Wahl für die Qualitätskontrolle in Wafer-Fertigungs- und Entwicklungslabors.