Gebraucht MITUTOYO SJ-401 #9308596 zu verkaufen

MITUTOYO SJ-401
ID: 9308596
Surface roughness profilometer Model number: 301-220807.
MITUTOYO SJ-401 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die vom japanischen Hersteller von optischen Geräten MITUTOYO entwickelt wurde. Es bietet hochgenaue Messungen von Halbleiterscheiben und anderen dünnen flachen Objekten. Das System verwendet einen berührungslosen Messkopf für hochpräzise und schnelle Wafertests. Es ist ideal für die Prüfung der Produktionsqualität von Wafern mit Dicken von 0,3 mm bis 3,2 mm für Programme wie Stanzgröße, Ertragsmanagement und Prozesskontrolle. SJ-401 nutzt eine Reihe fortschrittlicher 3D-Laser, um gleichzeitig bis zu 4 verschiedene Probenpunkte gleichzeitig zu messen, was Testzyklen deutlich beschleunigt und die Arbeitskosten senkt. MITUTOYO SJ-401 ist für höchste Genauigkeit ausgelegt, mit einer Wiederholbarkeit von 0,2 μ m für Messungen bis 20 μ m. Es ist mit einer erweiterten Tracking-Einheit und einer hochauflösenden CCD-Kamera ausgestattet, die selbst geringste Veränderungen der Oberflächenbedingungen erkennen kann. Die Maschine verfügt auch über eine automatische Korrektur für Muster-zu-Sonden-Variationen und eine Autofokus-Funktion, um konstant genaue Ergebnisse zu erhalten. SJ-401 kommt mit einer benutzerfreundlichen grafischen Oberfläche mit einem Touch-Panel-Display, um den Benutzer durch verschiedene Testeinstellungen und -bedingungen zu führen. Auf diese Weise können Bediener jeder Erfahrungsstufe schnell lernen, wie sie das Tool verwenden und es mit Leichtigkeit pflegen. Schließlich ist MITUTOYO SJ-401 ein leistungsfähiges, zuverlässiges und kostengünstiges Wafer-Test- und Messtechnik-Asset. Die Integration fortschrittlicher Laser- und Korrekturtechnologie bietet Anwendern eine Möglichkeit, ihre Wafer-Proben schnell und präzise zu messen, um bessere Erträge zu erzielen und maximale Kosteneinsparungen zu erzielen.
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