Gebraucht MITUTOYO SJ-402 #9227881 zu verkaufen

MITUTOYO SJ-402 Wafer Testing and Metrology Equipment bietet genaue Test- und Messfähigkeiten für eine Reihe von Halbleitertest- und Messanwendungen. Das System verwertet eine X-Y Hochleistungsscan-Mikroskopbühne, um Bildaufbereitung und Maß mehr als eine 4-Zoll-Oblate zu bieten, und vereinigt einen NiedrigvibrationsZ-Tisch der 1 Achse, der 3D-Planieren und AFMs-Maße erleichtert. Darüber hinaus umfasst das Gerät eine automatisierte Bildverarbeitungs- und Analyseschnittstelle für eine schnelle bildbasierte Analyse und Messung sowie einen robusten Satz automatisierter Test- und Messperipheriegeräte. Die Bildgebungs- und Messfunktionen der Maschine bieten eine fortschrittliche Architektur für die hochgenaue Bildaufnahme und -analyse. Dies macht es für Mikroprobing und mikrostrukturelle Tests und Analysen geeignet. Die leistungsfähige Messhardware ist für die genaue Sondierung und Messung von elektrischen Widerständen, Kapazität und Induktivität ausgelegt. Das Werkzeug unterstützt auch Jitter- und Pulsbreitenanalysen und andere Hochfrequenzparameter. SJ-402 Asset bietet leistungsstarke Bildverarbeitung und analysiert Funktionen, die robust für Genauigkeit und Präzision optimiert sind. Die automatisierte Bildverarbeitungs- und Analyseschnittstelle des Modells nutzt spezialisierte Algorithmen für die Mustererkennung, Merkmalextraktion, robuste Bildsegmentierung, Maskendiagnostik, Periodizität, Präzisionsausrichtung und andere Funktionen, um die fraktale Messtechnik zu ermöglichen. Die leistungsstarke Bildstabilisierung ermöglicht es dem Gerät, Hintergrundvariationen zu berücksichtigen. Das System umfasst eine Reihe von automatisierten Tests und Messperipheriegeräten, um eine genaue und schnelle Messung elektrischer Parameter zu ermöglichen. Im Lieferumfang enthalten sind automatisierte Widerstandstester, Kapazitätsbrücken, Induktivitätsanalysatoren, AC/DC hochauflösende Stromzähler und Präzisionsnivellierer. Diese Komponenten ermöglichen eine genaue Messung einer Vielzahl von elektrischen Parametern und sind für den Einsatz mit automatisierten Prüfgeräten und einer Reihe von elektrischen Sonden ausgelegt. Die flexible Maschinensoftwarearchitektur ermöglicht sowohl kundenspezifische als auch parametrische Messungen schnell und präzise. Das Tool verfügt über eine benutzerfreundliche visuelle Oberfläche zur Navigation von Bildwerkzeugen und Daten. Die intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht eine schnelle Einrichtung und Parameterabstimmung und hilft auch beim Entwurf optimaler Systeme für bestimmte Anwendungen. Insgesamt bietet MITUTOYO SJ-402 Wafer Testing and Metrology Asset eine zuverlässige und vielseitige Plattform für die schnelle Prüfung und Messung einer Vielzahl von Materialien und elektrischen Komponenten. Dieses Modell ist ideal für Halbleitertest- und Messanwendungen und bietet genaue Messungen elektrischer Parameter und präzise Abbildungsmöglichkeiten.