Gebraucht MITUTOYO SJ-411 #9267192 zu verkaufen

MITUTOYO SJ-411 ist eine leistungsfähige und leistungsfähige Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es wird verwendet, um die Struktur, Zusammensetzung und elektrischen Eigenschaften verschiedener Arten von Halbleiterscheiben zu messen und zu überprüfen. Das Hauptmerkmal des Systems ist seine Fähigkeit, die Eigenschaften einer breiten Palette von Halbleiterscheiben zu messen, zu bewerten und zu analysieren, einschließlich Einkristall, polykristalline, ppep-ätzte, MEMS, CMOS und FD-SOI. SJ-411 bietet eine hervorragende Leistung bei der Analyse der verschiedenen Eigenschaften eines Wafers wie Zusammensetzung, Kristallstruktur, Topographie, elektrische Eigenschaften, Ätzrate und Strom-Spannungs-Eigenschaften. MITUTOYO SJ-411 verfügt über einen hochempfindlichen kapazitiven Messkopf (CMH), der die elektrischen Eigenschaften des Wafers bis zu einer Auflösung von 1 Nanometer messen kann. Es ist auch mit einem rauscharmen Verstärker mit einem Messdynamikbereich von bis zu 65 mV ausgestattet. Dies ermöglicht die für genaue Messungen erforderliche Auflösung und Genauigkeit. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein Laser-Messtechnik-Paket, das mit einem Mikroskop für hochgenaue Oberflächentopographiemessungen ausgestattet ist. Dieses Paket kann bis zu einer Auflösung von 5 Nanometern messen. SJ-411 verfügt auch über eine automatisierte Erkennungsmaschine, die lithographische Muster bis zu 0,25 Mikrometer erkennen kann. Diese Maßnahme ermöglicht eine schnelle Inspektion sehr feiner Strukturen auf der Waferoberfläche. Ein weiteres bemerkenswertes Merkmal des Tools ist sein fortschrittliches Softwarepaket, das eine umfassende Analyse und Inspektion der Waferstruktur ermöglicht. Die Software analysiert und klassifiziert automatisch verschiedene Merkmale auf der Waferoberfläche und ermöglicht eine schnelle Analyse der Daten. Insgesamt ist MITUTOYO SJ-411 ein fortschrittliches und zuverlässiges Wafer-Test- und Messtechnik-Asset. Es kann die Struktur, Zusammensetzung und elektrischen Eigenschaften verschiedener Arten von Halbleiterscheiben mit beeindruckender Genauigkeit und Präzision messen und analysieren. Seine fortschrittlichen Funktionen erleichtern die schnelle und genaue Inspektion von Wafern und ermöglichen eine konsistente Qualitätskontrolle.