Gebraucht MITUTOYO YC-H260 #9227871 zu verkaufen

MITUTOYO YC-H260 ist eine Wafer-Messtechnik und Inspektionsanlage, die für fortgeschrittene Wafertests in verschiedenen Halbleiterherstellungsprozessen entwickelt wurde. Das System verfügt über eine leistungsstarke Stufensteuerung mit einer Genauigkeit von bis zu 0,5 Mikrometer. Das Gerät verfügt auch über eine integrierte Bilderfassungsmaschine, die einen Vollbild-komplementären Metall-Oxid-Halbleiter (CMOS) -Bildsensor verwendet, so dass der Benutzer hochwertige Bilder mit starken Details aufnehmen und gleichzeitig die Kameraleistung optimieren kann. Dieses Tool verfügt über ein erweitertes analytisches Asset, das in der Lage ist, Messungen mehrerer Proben durchzuführen und die Amplitude, Intensität und Phasen der Ergebnisse mit hoher Genauigkeit zu erhalten. Es verfügt auch über einen proprietären ECAD-Analysator zur Extraktion und Analyse der elektrischen Eigenschaften von Wafern. YC-H260 verfügt auch über eine Umweltkammer, die mehreren Umweltstandards entspricht, so dass der Benutzer verschiedene Materialien mit verschiedenen Temperaturen bewerten kann. Seine hochpräzise Z-Achse gewährleistet die Integrität des Modells, indem die Bewegung der Probenstufe gesteuert wird, um sicherzustellen, dass sie richtig mit der Kamera und der optischen Ausrüstung ausgerichtet ist. Mit seinem automatisierten Fokussystem ist das Gerät mit einem verstärkten Fokusbereich zur Aufnahme scharfer Bilder mit hoher Schärfentiefe ausgestattet. Die Maschine ist auch mit fortschrittlicher Software ausgestattet, die eine flexible Analyse einer Vielzahl von Bildern ermöglicht, so dass Benutzer ihre eigenen Mess- und Analyseprogramme anpassen können. Es ist in der Lage, komplizierte Ausrichtungen und Messungen mit scharfen Bildern und zuverlässigen Daten durchzuführen, auch mit Funktionen wie Musteranpassung und Tracking. Dieses Tool ermöglicht es dem Anwender, hochpräzise Messungen mit einer geringen Rauschrate zu erstellen, die genaue Ergebnisse und reproduzierbare Daten für eine effiziente Analyse mehrerer Proben liefern. Diese Anlage verwendet einzigartige Technologie, um 100 Mikrometer Partikel mit 32 Empfindlichkeitsstufen zu erkennen, was eine klare und genaue Bildgebung ermöglicht. Es ist auch mit mehreren Inspektionsfiltern und Optionen ausgestattet, die der Benutzer für verschiedene Messungen einsetzen kann. Darüber hinaus verfügt es über mehrere visuelle Inspektionsfunktionen, Farbanalysefunktionen und Größenanalysefunktionen zur Analyse und Beurteilung des Zustands der Probe und ihrer Eigenschaften. Das Modell ist auch mit einem USB-Anschluss ausgestattet, der es dem Benutzer ermöglicht, einfach an einen PC anzuschließen und Daten zu übertragen oder zu speichern sowie Daten vom Hostcomputer zu empfangen.