Gebraucht MITUTOYO YC-H260 #9267188 zu verkaufen

MITUTOYO YC-H260 Wafer Testing & Metrology Equipment ist ein innovatives Werkzeug für die diagnostische Prüfung und Analyse von fortschrittlichen IC (integrierte Schaltung) Materialien. Es wurde entwickelt, um Proben mit höchster Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu messen und zu überprüfen. YC-H260 ist ein massives Werkzeug, das zwei Hauptkomponenten enthält, den Optoscanner und das ID-Lüftersystem. Der Optoscanner besteht aus über hundert fortgeschrittenen Bildgebungseinheiten mit einer automatisierten XY-Bühnenbaugruppe. So lassen sich bearbeitete Wafer und blanke Siliziumwafer mit beispielloser Präzision messen und inspizieren. Die IDfan-Einheit besteht aus einem Array von optischen Köpfen und Detektoren, die verwendet werden, um die maximale Genauigkeit in der Messtechnik der Halbleiterstruktur zu erhalten. Dies ermöglicht es Benutzern, auch die kleinsten Funktionen zu überprüfen, so dass sie Fehler zu erkennen, die sonst nicht durch andere Methoden erkannt werden. MITUTOYO YC-H260 enthält auch spezialisierte Software, die es Anwendern ermöglicht, schnell Ergebnisse zu analysieren und Statistiken schnell und genau zu erhalten. Diese Software umfasst statistische Messpakete, Bildanalysetools, Etikettenerkennungs-, Partikelzählungs- und Oberflächenbewertungsfunktionen. Auf diese Weise können Benutzer Daten effizient analysieren, sodass sie Problembereiche schnell ermitteln und die Leistung ihrer Chips optimieren können. Darüber hinaus umfasst YC-H260 eine Vielzahl von Umwelteingabemöglichkeiten, die die Simulation unterschiedlichster Bedingungen erleichtern. Auf diese Weise können Anwender die Leistung und Zuverlässigkeit ihrer Komponenten unter einer Vielzahl von Umgebungsbedingungen wie warmen oder kalten Temperaturen testen. Darüber hinaus bietet MITUTOYO YC-H260 eine benutzerfreundliche Bedienung mit einer intuitiven Touchscreen-Oberfläche, die das Navigieren von Menüs und die Bedienung der Maschine einfach macht. Dies ermöglicht es auch unerfahrenen Benutzern, schnell zu lernen, wie das Tool zu verwenden und das Beste aus ihrer Investition zu erhalten. Insgesamt ist YC-H260 Wafer Testing & Metrology Tool ein unschätzbares Werkzeug zur Diagnose und Verbesserung von Halbleiterbauelementen. Dank fortschrittlicher Bildgebung, wiederholbarer Genauigkeit, statistischer Analyse und zuverlässiger Umweltsimulation verfügen Anwender über ein praktisches Werkzeug zur Verbesserung der Leistung und Zuverlässigkeit ihrer Komponenten.