Gebraucht MURAKAMI GM-26D #293616276 zu verkaufen

MURAKAMI GM-26D
ID: 293616276
Measurement system.
MURAKAMI GM-26D ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik für die produktive Messung der Wafer-Photolithographie. Mit branchenführender Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Auflösung war GM-26D das System der Wahl für Photomaskenhersteller, IC-Hersteller und Halbleiterhersteller aller Art. MURAKAMI GM-26D verfügt über eine Reihe von hochpräzisen optischen Sensoren, die genaue Messungen auf Nanometerebene ermöglichen. Es kann Eigenschaften wie kritische Bemaßungen (CD), Linienkantenrauhigkeit (LER) und Musterplatzierung mit beispielloser Geschwindigkeit und Genauigkeit messen. Darüber hinaus bietet es die Möglichkeit, den gesamten Messvorgang vom Probenladen bis zur Datenerfassung und -analyse zu automatisieren. Das Gerät ist sehr intuitiv und einfach zu bedienen, mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche und intuitiven Menüs. Die automatisierte Wafer-Transfermaschine ermöglicht eine effiziente Be-, Ent- und Positionskontrolle mit schnellen Kommunikationsgeschwindigkeiten. Das vollautomatisierte Analysetool kann schnell genaue Ergebnisse generieren, die dann zur Optimierung von Prozessparametern verwendet werden können. GM-26D ist optimiert, um auch eine Vielzahl von nicht-photolithographischen Parametern zu messen. Es verfügt über eine Hochleistungs-Klebstoffabgabestation und eine hochintensive UV-Lichtquelle, die Messungen von dielektrischen Folien, Metallen und anderen Wafermaterialeigenschaften ermöglicht. Darüber hinaus erweitert seine erweiterte Partikelerkennungsfunktion seine Fähigkeiten für die Wafer-Oberflächenfehlerinspektion. Alle diese Funktionen ermöglichen MURAKAMI GM-26D einen beispiellosen Einblick in den Produktionsprozess, um sicherzustellen, dass alle kritischen Messungen genau und wiederholbar sind. Diese Ressource bietet somit das ultimative Werkzeug zur Qualitätssicherung in der Halbleiterindustrie. Mit seiner hohen Geschwindigkeit und Genauigkeit ist GM-26D die ideale Wahl für jede Wafertest- und messtechnische Anwendung.
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