Gebraucht N&K 1712-RT #9312850 zu verkaufen

N&K 1712-RT ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die schnelle, genaue und zerstörungsfreie Prüfung von Wafermaterialien entwickelt wurde. Es verfügt über eine Vielzahl von Modulen und Scantechniken, einschließlich Atomkraftmikroskopie (AFM) und optische Interferometrie (IF), um eine Vielzahl von Parametern zu messen, einschließlich Dehnung, Spannung, Defektdichte, Defektlokalisierung, Abscheidungsdicke und Wellenfront. Durch die Analyse dieser Daten können Benutzer ein genaues Bild der Leistung des Wafers und aller möglichen Zuverlässigkeitsprobleme entwickeln, die zu Fehlern führen könnten. 1712-RT ist ein umfassendes System, das über mehrere Regionen hinweg arbeiten kann, mit mehreren Formgrößen in einer Einheit. Es bietet die Möglichkeit, schnell zwischen verschiedenen Scanparametern und Mustertypen zu wechseln. Die Maschine kann sowohl dünne Waferproben als auch Dickwaferproben mit minimaler Probenvorbereitung testen. Das Werkzeug misst effektiv eine Vielzahl von Parametern von der Kante bis zur Rückseite des Wafers mit einem zerstörungsfreien Ansatz. N&K 1712-RT verfügt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, um Einstellungen anzupassen und Ergebnisse zu speichern. Es verfügt über eine erweiterte statistische Analyse-Suite, mit der Benutzer Ergebnisse in mehreren Formen anzeigen können. Darüber hinaus bietet das Asset eine Vielzahl von Konnektivitätsoptionen, die eine Fernüberwachung und Datenanalyse über mehrere Datensätze hinweg ermöglichen. Das Modell hat einen verbesserten Durchsatz, Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Es verwendet sowohl großflächige als auch präzise AFM-Scantechniken, um die Topographie der Waferproben zu untersuchen und eine Vielzahl von Parametern von der Oberfläche zu messen. Dies hilft, einen umfassenderen Überblick über die Leistung des Wafers zu schaffen und Kunden bei der Auswahl der leistungsstärksten Wafermaterialien für ihre Anwendungen zu unterstützen. 1712-RT bietet erstklassige Optik, Scanplattformen und Komponenten. Es verwendet hochauflösende Kameras und proprietäre Scanalgorithmen, um Fehler und andere Anomalien auf der Waferoberfläche schnell und genau zu erkennen. Das Gerät hat auch die Fähigkeit, große Datensätze zu speichern und zu analysieren, so dass Benutzer eine Vielzahl von Parametern sowohl historisch als auch in Echtzeit studieren können. N&K 1712-RT ist ein zuverlässiges, hochwertiges Prüf- und Messsystem für Wafermaterialien. Es verfügt über die Möglichkeiten, schnelle und genaue Messungen durchzuführen, Datensätze zu speichern, Ergebnisse in mehreren Formen zu analysieren und Fehler und andere Probleme auf der Waferoberfläche zu erkennen. Seine Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Durchsatz sind erstklassig, so dass es eine ausgezeichnete Wahl für diejenigen, die zuverlässige Ergebnisse benötigen, die ihre hohen Anforderungen erfüllen.