Gebraucht N&K 5700CDRT #9247004 zu verkaufen

N&K 5700CDRT Geräte sind ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das für extrem genaue Messungen der Wafer-Topographie entwickelt wurde. Dieses fortschrittliche und zuverlässige Instrument liefert umfassende Daten über Wafer-Topographie, wie Oberflächenrauhigkeit, Schritthöhen, Korngrößen und andere Parameter. 5700CDRT Wafertest- und Metrologieeinheit basiert auf einer scanartigen Deflektometrietechnik. Diese innovative Methode ermöglicht es der Maschine, verschiedene topographische Merkmale eines Wafers effizient und schnell genau zu messen. Das Werkzeug kann eine breite Palette von topographischen Merkmalen messen, wie Oberflächenrauhigkeit, Schritthöhen, Terrassen und mehr. N&K 5700CDRT ist mit einem Hochgeschwindigkeits-Scanspiegel ausgestattet, der sich schnell im Strahlengang bewegt, um verschiedene topographische Merkmale eines Wafers genau zu messen. 5700CDRT Wafer-Test- und Metrologie-Asset nutzt auch ein fortschrittliches Laser-Interferometrie-Modell, um extrem zuverlässige und präzise Topographiedaten zu generieren. Dieses Gerät kombiniert sowohl die Off-Achs- als auch die On-Axis-Interferometrie, um das Wellenfrontprofil der zu prüfenden Probe genau zu analysieren. Mit dieser fortschrittlichen Technologie kann N&K 5700CDRT gleichzeitig die Rauhigkeit und Höhe der Waferoberfläche messen und die Ergebnisse mit einer hervorragenden Auflösung von 1-2 Nanometern liefern. Darüber hinaus ist 5700CDRT ein äußerst benutzerfreundliches Gerät. Es verfügt über eine einfach zu bedienende Touch-Panel-Schnittstelle, mit der Benutzer das System schnell einrichten, Parameter anpassen und detaillierte Ergebnisse mit minimalem Aufwand erhalten können. Neben seiner benutzerfreundlichen Schnittstelle unterstützt das Gerät noch weitere Kommunikationsschnittstellen wie Ethernet oder RS232. Es kommt auch mit einer Soft-Data-Protokollierung Fähigkeit zum einfachen Download und Analyse der Testergebnisse. Insgesamt ist N&K 5700CDRT eine zuverlässige und robuste Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die genaue und präzise Messungen der Wafer-Topographie liefert. Mit seiner fortschrittlichen scanartigen Deflektometrie-Technik kann er schnell und zuverlässig eine Vielzahl von topographischen Merkmalen einer Waferoberfläche messen. Darüber hinaus kommt es auch mit einer intuitiven Benutzeroberfläche, die es einfach zu bedienen macht. Insgesamt ist dieses Werkzeug ein hervorragendes Werkzeug, um Wafer-Topographie-Merkmale effizient und präzise zu messen.