Gebraucht N&K Gemini #9386139 zu verkaufen

N&K Gemini
ID: 9386139
Scatterometer.
N&K Gemini ist eine hochmoderne Halbleiter-Wafer-Prüf- und Messtechnik für die Prüfung und Überwachung von Halbleiterbauelementen. Es ist in der Lage, detaillierte Messungen an Dünnschichtscheiben mit überlegener Genauigkeit, Präzision und Geschwindigkeit durchzuführen. Das System besteht aus einem Wafer-Prüftisch, einer linearen Stufe, einer Abbildungseinheit und zugehöriger Software. Der Wafer-Prüftisch wurde entwickelt, um Wafer verschiedener Größen und Dicken mit sehr hoher Präzision zu halten und zu bewegen. Es ist mit einer Bewegungseinheit ausgestattet, um den Wafer zu halten, bis der Messvorgang abgeschlossen ist. Die lineare Stufe wird auf dem Wafer-Prüftisch positioniert und bewegt den zu prüfenden Wafer. Es ist mit fortschrittlicher Software programmiert, um die Position und Orientierung des Wafers während des Messvorgangs genau zu steuern. Die bildgebende Einheit besteht aus einer Kamera und einer spezialisierten Optik, um Bilder des zu testenden Geräts genau zu erfassen. Die Abbildungseinheit ist mit einem Bildprozessor und einer Beleuchtungsmaschine ausgestattet, die zur Überwachung des Zustands einer Vielzahl von zu prüfenden Geräten verwendet werden kann. Dies ermöglicht die Erkennung von Gerätefehlern sowie die Bereitstellung von Daten zur weiteren Analyse. Gemini ist mit einer erweiterten Software-Suite ausgestattet, um Testergebnisse zu analysieren, Simulationen auszuführen und Berichte zu erstellen. Die Software wurde entwickelt, um benutzerdefinierte Berichte basierend auf den Benutzeranforderungen zu erstellen. Das Programm kann auch verwendet werden, um eine Historie der Testergebnisse aus früheren Messungen oder Simulationen zu speichern. Zusammenfassend ist N&K Gemini ein leistungsfähiges, genaues und erschwingliches Wafer-Prüf- und Messtechnikwerkzeug, das hochpräzise Messungen auf Dünnschichtscheiben ermöglicht. Es eignet sich für verschiedene Tests und Überwachung von Halbleiterbauelementen und kann auf kundenspezifische Berichte basierend auf Benutzeranforderungen erstellt werden. Die Anlage bietet eine Lösung für Hersteller, Entwicklungsingenieur oder Forschungswissenschaftler, die hochpräzise Messungen einer Vielzahl von Geräten erfordern.
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