Gebraucht NANO SYSTEM 3025 CIS #9153476 zu verkaufen

ID: 9153476
Depth measurement system.
NANO Equipment 3025 CIS (Compact Inspection System) ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit zur Herstellung von Halbleiterchips. Diese Maschine wurde entwickelt, um kleine und neue Technologien wie Wafer, integrierte Schaltungen (ICs) und Dünnschichttransistoren (TFTs) effizient und zuverlässig zu testen. Das Werkzeug des Werkzeugs wird gebaut, um die elektrischen Eigenschaften dieser Komponenten wie Widerstände, Kapazitäten und Stromleckage zu messen. 3025 CIS ist entworfen, um mit hoher Genauigkeit und Geschwindigkeit zu messen und zu helfen, Personalzeit und Kosten zu reduzieren. Seine Präzision ist in der Lage, mit hoher Genauigkeit über verschiedene Teile zu messen, einschließlich Komponenten, die weniger als 0,03 mm groß sind. Im Vergleich zu anderen Inspektionssystemen verfügt dieser Vorteil über eine CCD-Digitalkamera und ein kombiniertes optisches LED-Mikroskop mit einem 3D-Fokus, der die Präzision seiner Messungen weiter verbessert. Das Gerät ist außerdem mit einem hochempfindlichen Laser und einer Messvorrichtung zur Produktinspektion ausgestattet. Diese Funktion wird normalerweise verwendet, um einen anormalen Bereich oder Defekt an der Komponente zu erkennen. Zum Beispiel kann es Korngrenzen, elektrische Shorts und andere Fremdkörper auf dem Wafer erkennen. Es hat auch die Fähigkeit, Hohlräume, Risse und Verzug zu identifizieren. NANO Model 3025 CIS verfügt über eine direkte Computerkommunikation mit einer Benutzeroberfläche, die dem Benutzer die volle Kontrolle über den Betrieb des Geräts gibt. Es ist in der Lage, Rezepte und Testparameter für eine bessere Leistung zu speichern und zurückzurufen. Darüber hinaus ist das System sehr kompatibel mit verschiedenen Programmiersprachen wie C und C++, so dass es ideal für die Entwicklung und Optimierung von Produktionsprozessen. Das Gerät bietet auch leistungsstarke Funktionen wie seinen eingebauten Datenlogger und seine Fähigkeit, mit anderen Inspektionssystemen zu ergänzen. Darüber hinaus wird das Gerät von einem intuitiven Touchscreen-Panel angetrieben und ist mit seinen Datenbanken für eine bessere Leistung verbunden. Schließlich entspricht es mehreren Qualitätsprüfstandards wie IPC-A-610E, IPC-6010, ISO 9001:2015, ANSI/ESD S20.20, J-STD-001 und UL/IEC/EN 6238 Anforderungen. Insgesamt ist 3025 CIS eine vielseitige Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die entwickelt wurde, um mit ihren eingebauten Funktionen eine höhere Genauigkeit zu erreichen. Es ist ein ideales Bauelement für Qualitätskontrolle und Produktionsentwicklungsprozesse für Halbleiterbauelemente.
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