Gebraucht NANO SYSTEM NVM-3025 CIS #9153463 zu verkaufen

NANO Equipment NVM-3025 CIS ist ein Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das entwickelt wurde, um kommerzielle und industrielle Anforderungen an die Präzisionsmesstechnik im Auge zu behalten. Hergestellt von NANO Unit, ist dieser All-in-One-Performer in der Lage, sowohl Low-Level-und High-Level-Test und Messtechnik von Halbleiterscheiben. NVM-3025 CIS verfügt über eine Reihe von Funktionen, die es ideal für eine Reihe von Anwendungen machen, einschließlich der folgenden: Hochauflösende Bildgebung: NANO Machine NVM-3025 CIS wurde entwickelt, um eine Bildauflösung von bis zu 5 μ m pro Pixel bereitzustellen, wodurch eine genaue Inspektion von Halbleiterbauelementen ermöglicht wird. Dies kann für alles von der Analyse der Transistor-Gatelänge bis zur Charakterisierung der Ätztiefe verwendet werden. Automatische Oberflächenrauhigkeitskennzeichnung: Dieses Werkzeug ist in der Lage, Parameter wie Oberflächenrauhigkeit, Oberflächentopologie und Dicke in nur wenigen Sekunden zu messen. Damit ist es das perfekte Werkzeug für die Prozesskontrolle und Fehleranalyse. Hochgeschwindigkeits-Scan: NVM-3025 intuitive CIS-Schnittstelle und Hochgeschwindigkeits-Scan können einen Wafer-Scan durchführen, Daten analysieren und Ergebnisse in nur 18 Sekunden liefern. Diese Funktion ermöglicht es Benutzern, Probleme mit Prozessoptimierung, kritischer Fehlerinspektion und anderen Anwendungen schnell zu identifizieren. Mehrere Werkzeugkombinationen: NANO Asset NVM-3025 CIS können mehrstufige Kombinationen akzeptieren, um komplexe messtechnische Aufgaben zu erleichtern. Das Modell kann mit einer Reihe von spezialisierten Werkzeugen verwendet werden, einschließlich Oberflächenrauprofiler, Mikroskopsysteme, Interferometer und andere, um eine breite Palette von Testfunktionen zu ermöglichen. Mehrstufige Mikrosteuerung: NVM-3025 CIS verwendet mehrstufige Mikrostufen-Kontrollsysteme, um genaue messtechnische Ergebnisse zu ermöglichen. Diese Ausrüstung ermöglicht eine präzise Bedienung und Messung kritischer Parameter, so dass das System genaue und wiederholbare Ergebnisse liefern kann. Automatisierung der Qualitätssicherung: NANO Unit NVM-3025 CIS ist mit Automatisierungsprotokollen programmiert, die die Qualitätssicherung von Wafer-Prüfdaten unterstützen. Die robuste Maschine kann Ergebnisse in Echtzeit analysieren und Personal sofort alarmieren, wenn eine Anomalie erkannt wird. NVM-3025 CIS ist eine ideale Wahl für die Präzisionsmesstechnik von Halbleiterscheiben. Die hochauflösende Bildgebung, die schnelle Scangeschwindigkeit und die fein abgestimmten Automatisierungsprotokolle machen es zu einem wertvollen Werkzeug auf der Produktionsfläche.