Gebraucht NANOMETRICS Atlas II+ #293636675 zu verkaufen

NANOMETRIE Atlas II + ist ein Wafer-Test und Messtechnik-Tool, das fortschrittliche Optik und Elektronik verwendet, um Halbleiter-Wafer-Eigenschaften wie Oberflächentopographie, Oxiddicke und Widerstand zu messen. Mit der Fähigkeit, bis zu 8-Zoll-Wafer zu überprüfen und zu analysieren, ist dieses System für die Geräteentwicklung und fortschrittliche Prozesssteuerung gefragt. Das System besteht aus einer hochmodernen Messtechnik-Plattform, die einen automatisierten x-y-Scanner, ein bildgebendes Mikroskop und Hochleistungs-Lasersensoren umfasst. Der x-y Scanner ermöglicht eine präzise Positionierung des Wafers auf der Mikroskopbühne und die genaue Ausrichtung des Messkopfes. Eine Reihe von bildgebenden Objektiven ermöglicht es dem Benutzer, Bilder verschiedener Detailebenen auf dem Wafer zu erhalten. Die fortschrittliche Laser-Sensortechnologie misst Membran- und Filmdicke sowie topographische Details auf dem Wafer, die mit bloßem Auge möglicherweise nicht sichtbar sind. Alle Messungen werden in Mikrometern erfasst und als digitale Datenpunkte gespeichert. Dies erleichtert die schnelle Auswertung von Parametern wie Oxiddicke, kritische Dimension und Widerstand. Die begleitende Software Atlas II + zeigt Bilder, Datenplots und messtechnische Prozesssteuerungen an. Es enthält auch automatische Fokussierungsalgorithmen, um den Messvorgang zu rationalisieren und Bedienungsfehler zu minimieren. Das System eröffnet eine Welt der Möglichkeiten in der Wafer-Prüfung und Messtechnik. Mit NANOMETRICS Atlas II + können Geräteentwickler Probleme schnell erkennen und Korrekturen schnell vornehmen, wodurch Produktionszeit und -kosten reduziert werden. Erweiterte Prozesssteuerungsfunktionen helfen, sicherzustellen, dass Massenproduktionsläufe den Spezifikationsanforderungen entsprechen.