Gebraucht NANOMETRICS Atlas XP #9228091 zu verkaufen

NANOMETRICS Atlas XP ist eine umfassende Wafer-Prüf- und Messtechnik, die schnelle, genaue und zuverlässige Messungen auf einer breiten Palette von Halbleiterscheiben durchführen kann. Das System eignet sich für alle Arten von Wafer-Sondierung, von der Gerätecharakterisierung und -prüfung bis hin zur Fehlerisolierung, Zuverlässigkeitsbewertung und Ausbeute. Das Gerät verfügt über eine Reihe von Funktionen, die zur Optimierung und Automatisierung von Wafertests beitragen, einschließlich einer integrierten automatischen Korrektursoftware, automatisierter Probenhandhabung, hochauflösender Laser-Mapping und integrierter Metrologie- und Thermomanagementfunktionen. Die Wafer-Testmaschine von NANOMETRICS ATLAS-XP besteht aus drei Hauptkomponenten: der Kontrollstation, der Teststation und der Metrologie-Station. Die Control Station ermöglicht eine automatisierte Probenhandhabung, Computersteuerung der Probenvorbereitung, Probenqualifizierung und Datenerfassung, um den Durchsatz und die Genauigkeit zu erhöhen, während die Test Station automatisierte parallele Gerätetests von bis zu 200 Geräten pro Minute ermöglicht. Schließlich bietet die Metrologie Station kontaktlose, hochauflösende Laser-Mapping, um die Qualitätsbewertung einzelner Geräte zu erleichtern und den Prozess zu überwachen, um Konsistenz und Ertrag zu gewährleisten. Das Tool bietet auch eine Reihe von Funktionen, um eine strenge Datenanalyse zu ermöglichen, einschließlich hochauflösender Bildgebung, schnellem thermischem Zyklus und integrierter Messtechnik. Eine breite Palette von Parametern kann überwacht und analysiert werden, um die Leistung zu optimieren und ein gleichbleibend hohes Maß an Produktqualität zu erhalten. Weiterhin ist Atlas XP in der Lage, feine physikalische Strukturen, wie Linienbreiten und Abscheidungsdicken, die ansonsten nicht nachweisbar wären, zu erfassen. Die Anlage ist für die Verwendung in Verbindung mit einer Vielzahl von Testeinheiten und Softwarepaketen konzipiert, einschließlich sowohl allgemeiner als auch spezialisierter Wafer-Testpakete. Es ist kompatibel mit einer Vielzahl von Industriestandard-Plattformen und kann mit anderen Geräten wie Thermokammern, Messtechnik-Systemen und Prozessüberwachungssystemen integriert werden. Insgesamt ist ATLAS-XP ein fortschrittliches, integriertes und automatisiertes Wafertest- und Metrologiemodell, das zuverlässige Ergebnisse für eine Vielzahl von Wafer-Sondierungsaufgaben liefert. Die Geräte wurden mit Blick auf den Benutzer entwickelt und bieten Funktionen, die eine schnelle, effiziente und zuverlässige Probensondierung ermöglichen und gleichzeitig anspruchsvolle Datenanalysefunktionen bieten, um fundierte Entscheidungen zu erleichtern.