Gebraucht NANOMETRICS Atlas #9270884 zu verkaufen

NANOMETRICS Atlas ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Messung und Charakterisierung von Halbleitermaterialien und -Bauelementen. Es besteht aus einer hochmodernen Softwareplattform, einem sub-nanometrischen Rastermikroskop und einer Vielzahl ausgeklügelter Mess- und Charakterisierungskomponenten. Die Software bietet dem Anwender eine benutzerfreundliche GUI (Graphical User Interface), um die Systemparameter zu steuern, die Probe zu navigieren, Workflows zu entwickeln und gesammelte Daten zu visualisieren. Die Plattform ermöglicht es Benutzern, alles von Topographie bis zu elektrischen Eigenschaften in beliebiger Auflösung zu messen, sowohl 2D als auch 3D. Es unterstützt eine Reihe von Standardanalysetools wie Bildverarbeitung, Linienprofilierung und erweiterte Merkmalserkennung, die es ermöglichen, eine Vielzahl von Messungen und Charakterisierungen durchzuführen. Das in Atlas verwendete Mikroskop hat einen Rasterbereich von bis zu 150 mm, eine laterale Auflösung von 0,11 µm und eine Genauigkeit von bis zu 8 nm. Es verfügt über ein patentiertes E-SEM (Energy Enhanced Scanning Electron Microscope) -Design, mit dem Benutzer sowohl topographische als auch elektrische Bilder erfassen können. Das Mikroskop ist für hochpräzises Scannen und Merkmalserkennung optimiert. NANOMETRIE Atlas kann eine Vielzahl von Materialien in verschiedenen Stufen der Verarbeitung charakterisieren. Es berücksichtigt die verschiedenen Parameter, die das Ergebnis beeinflussen könnten, wie die elektrische Leitfähigkeit des Materials, seine elektrische Kapazität, Leckstrom und andere Parameter. Es bietet auch einen umfassenden Satz von Sensoren und Sonden einschließlich optischer Spannungssensoren und Scanellipsometrie Sonden. Alle gesammelten Messungen und Charakterisierungen werden auf der Einheit gespeichert und können in verschiedenen Formaten angezeigt werden, einschließlich Tabelle, Grafik und Histogramm. Darüber hinaus kann die Maschine erweiterte Messungen wie topographische und elektrische Bilder anzeigen, sowohl 2D als auch 3D. Insgesamt bietet Atlas eine einfach zu bedienende Plattform, um eine Vielzahl von Halbleitermaterialien in verschiedenen Verarbeitungsstufen zu messen und zu charakterisieren. Es nutzt seine anspruchsvolle Software, das fortschrittliche Scanmikroskop und eine breite Palette von Sensoren und Sonden, die es dem Benutzer ermöglichen, die notwendigen Informationen für die weitere Analyse zu sammeln. Die gesammelten Daten können dann in übersichtlichen grafischen Formaten angezeigt werden, wodurch Anwender einen tiefen Einblick in ihre Komponentendesigns erhalten.