Gebraucht NANOMETRICS Atlas #9271266 zu verkaufen

NANOMETRICS Atlas ist eine revolutionäre neue Wafer-Prüf- und Messtechnik, die die Qualität von Halbleiterscheiben direkt messen soll. Es ermöglicht die automatisierte Bilderfassung und -analyse durch den Einsatz einer einzigartigen und innovativen Reihe fortschrittlicher Bildgebungshardware und proprietärer Algorithmen. Das System wurde entwickelt, um Wafermaterialintegrität und Wafer-Homogenität über die gesamte Waferoberfläche schnell und genau zu analysieren. Es verwendet ausgefeilte bildgebende Technologie und fortschrittliche Messtechniken, um detaillierte Bilder zu erfassen und die Eigenschaften des Wafermaterials für ein tiefes Verständnis der Waferqualität abzubilden. Atlas bietet automatisierte Bildgebung und Messungen von Fehlergröße, Form, Position und Konnektivität über die gesamte Waferoberfläche. Anschließend verarbeitet die Software die Bilder, um wichtige Daten zu extrahieren, die zur Prozesssteuerung und Prozessoptimierung verwendet werden können. NANOMETRICS Atlas verfügt auch über eine hochauflösende 3D-Zeilenabtastfähigkeit für detaillierte Messtechnik von Wafern bis zu 0,1 µm. Dies ermöglicht eine größere Analysetiefe und detaillierte Untersuchung der Eigenschaften des Wafermaterials. Die 3D-Zeilenscanfähigkeit ermöglicht auch die Abbildung von Oberflächentopographie und Fransen auf Wafern. Atlas unit integriert mehrere Topographietechnologien und bietet erweiterte Datenanalyse-Funktionen zur schnellen Bestimmung von Variationen bei der Strukturierung der gemusterten Schichten auf den Wafern. So können Prozessingenieure Prozessvarianten bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen schnell und genau erkennen und analysieren. NANOMETRICS Atlas bietet auch erweiterte automatisierte Datenanalysefunktionen, mit denen Benutzer Fehlerverteilungen über die Waferoberfläche schnell erkennen und analysieren können. Dies liefert detaillierte Einblicke in Waferqualität und Produktionsprozessfähigkeit. Zusammenfassend ist Atlas eine leistungsstarke fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine. Es bietet erweiterte Bildgebungs-, Messtechnik- und Datenanalysefunktionen für umfassende Wafer-Qualitätstests. Es wurde entwickelt, um detaillierte Informationen über die Qualität von Wafern und den Produktionsprozess durch schnelle und genaue Bildanalyse und Fehlerabbildung bereitzustellen.