Gebraucht NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT PN 4400 #293649897 zu verkaufen

NANOMETRIE/BIO-RAD/ACCENT PN 4400 ist eine fortschrittliche Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine präzise und zuverlässige Charakterisierung mehrerer mikroelektronischer Topographie-Standards ermöglicht. Das System besteht aus einem softwaregetriebenen Mikroskop und einem patentierten Kontaktprofilometer, um die Form und Eigenschaften der Oberfläche von Wafern mit höchster Genauigkeit genau zu messen. Die ACCENT PN 4400 Einheit ist mit einem proprietären Profilometer-Design und einem hochauflösenden Mikroskopobjektiv konfiguriert. Das Profilometer, das direkt am Mikroskopobjektiv montiert ist, sammelt präzise X-Y-Koordinaten der Waferoberfläche. Diese Maschine erzeugt eine exakte 3D-Karte, die die genaue Krümmung der Oberfläche und anderer KEs anzeigt. Mikroskopische Merkmale können bei einer Vergrößerung von bis zu 1000X betrachtet werden, was höhere Auflösung und Genauigkeitsmessungen ermöglicht. BIO-RAD PN 4400 kann verschiedene Parameter wie Waferdicke und Ebenheit genau messen. Darüber hinaus können mehrere Mustergrößen und Steigungen effektiv auf jede Winkel-, Schritthöhen- und KE-Geometrie ausgewertet werden. Das Werkzeug misst auch Profilschärfe und Steigung sowie Defekte an der Oberfläche des Wafers. Das Asset bietet eine hervorragende Abdeckung und Wiederholbarkeit über eine breite Palette von Wafergrößen und Strombedarf. Um höchste Leistung zu gewährleisten, verfügt das softwaregesteuerte Modell über einen dreistufigen Bildverfolgungsalgorithmus, der die Kalibrierung und Wiederholbarkeit der Scanergebnisse verbessert. NANOMETRICS PN 4400 verfügt außerdem über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche (GUI), die es dem Benutzer ermöglicht, seine Messungen schnell anzupassen und hervorragende Ergebnisse zu erzielen. Das Gerät ist auch in der Lage, Datenprotokolle zu erfassen und Berichte zu drucken, sodass Forscher und Ingenieure ihre Ergebnisse korrekt dokumentieren können. Zusammenfassend ist PN 4400 ein leistungsfähiges und zuverlässiges Wafer-Prüf- und Messsystem, das präzise und präzise Messungen mehrerer mikroelektronischer Topographiestandards ermöglicht. Es enthält einen dreistufigen Bildverfolgungsalgorithmus, eine intuitive Benutzeroberfläche und mehrere Energiebedürfnisse, um Anwendern zu hervorragenden Ergebnissen zu verhelfen. NANOMETRIE/BIO-RAD/ACCENT PN 4400 wurde entwickelt, um die Wiederholbarkeit zu maximieren, wodurch Forscher und Ingenieure ein effektives Werkzeug zur korrekten Charakterisierung der Oberfläche ihrer Wafer erhalten.