Gebraucht NANOMETRICS FLX F6 #172531 zu verkaufen

NANOMETRICS FLX F6 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die überlegene Inspektions- und Messtechnik-Leistung mit einer flexiblen Hardware-Architektur liefert. Es verfügt über eine einzigartige, bildbasierte Methode der automatisierten Inspektion, die nicht sichtbare oder intermittierende Fehler erkennt. Es verwendet eine hochauflösende CCD-Kamera, um schnell einen Querschnitt des Wafers zu erfassen und dann erweiterte Algorithmen zu verwenden, um vorhandene Fehler zu erkennen und zu klassifizieren. Es enthält auch eine Vielzahl von Analysetools, um Benutzern präzise und granulare Daten über ihre Proben bereitzustellen. Das System nutzt eine Reihe leistungsfähiger Bildanalyse- und Messtechnikwerkzeuge und liefert dem Anwender zuverlässige, wiederholbare Ergebnisse. Es nutzt fortschrittliche Algorithmen, um Fehler zu erkennen und zu klassifizieren, so dass eine schnelle und präzise Identifizierung möglich ist. FLX F6 unterstützt auch eine Vielzahl von Mess- und Analysefähigkeiten, wie Oberflächenrauhigkeit, Partikelgröße und Pass/Fail-Analyse. Das Gerät verfügt über eine Reihe weiterer Funktionen, um sicherzustellen, dass Benutzer die höchstmögliche Leistung erzielen. Es enthält eine fortschrittliche optische Maschine für bessere Bildqualität und -auflösung sowie adaptive Bildverarbeitungsfunktionen, um die Leistung jeder Probe zu optimieren. NANOMETRICS FLX F6 enthält auch eine einzigartige Non-Touch-Methode, die die Notwendigkeit beseitigt, die Probe zu ändern und Oberflächenschäden zu beseitigen. Das Tool ist zudem äußerst benutzerfreundlich, mit einer benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche und einer Bibliothek mit fortschrittlichen, vorprogrammierten Bildern, die sich auf jede Anwendung beziehen. FLX F6 ist vollautomatisch und kann fernbedient werden, so dass Benutzer den Prozess aus der Ferne überwachen können. Das Asset ist auch mit einer breiten Palette von Softwarepaketen kompatibel, wodurch die Integration in bestehende Systeme zur weiteren Analyse vereinfacht wird. Insgesamt ist NANOMETRICS FLX F6 ein umfassendes Wafertest- und Metrologiemodell, das eine präzise Waferinspektion und messtechnische Analyse ermöglicht. Es eignet sich sowohl für die Forschung als auch für industrielle Anwendungen und seine fortschrittlichen Funktionen sorgen dafür, dass Benutzer die bestmöglichen Ergebnisse erzielen.