Gebraucht NIHON BIONICS SWB-156RL #9148766 zu verkaufen

NIHON BIONICS SWB-156RL
ID: 9148766
Resistivity measurement system Device specification: Target crystalline solar cell Si wafer Type: Single crystal Size: 156 mm Resistance: 0.3 [ohm-cm] Repeatability: 2% Lifetime: 0.1 μs Repeatability: 3% Tact time: 3 Sec / Piece Usage environment Ambient temperature: 23 °C ± 2 °C Ambient humidity: 50 ± 10% Utility: Fixed voltage: 3 Ph, AC 200 V ± 10%, 26 A, compressed air Pressure: 0.5MPa 30L / min Access to diameter: φ 10 mm Number of connections: 1 Line general exhaust.
NIHON BIONICS SWB-156RL ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit für kritische Wafermessungen bietet. Seine Fähigkeit deckt die meisten Test- und Messtechniken ab, die in der modernen Halbleiterschaltungsentwicklung verwendet werden, einschließlich Kapazität-Spannung (CV) -Tests, Widerstandstests, optische Mikroskopie und Messungen der elektrischen Eigenschaften. SWB-156RL ist mit einem hochauflösenden optischen Mikroskop und einem 3D-Oberflächenbildsystem ausgestattet, das eine detaillierte Inspektion von Waferoberflächen unter verschiedenen Beleuchtungen ermöglicht. Es ist auch mit zwei frontseitigen Wafer-Sonden in verschiedenen Winkeln ausgestattet und bietet präzise Messungen für kleine und große Geometrien unterschiedlicher Formgrößen. Das Gerät ist zudem mit einer rechnergesteuerten XY-Stufe ausgestattet, so dass mehrere Ziele gleichzeitig gemessen werden können. Digitale Bildverarbeitungsalgorithmen werden auf den Beispielbildern verwendet, um verschiedene Parameter wie Form, Größe, Fläche, Umfang usw. zu messen und eine genaue Quantifizierung der Testergebnisse sicherzustellen. Darüber hinaus bietet NIHON BIONICS SWB-156RL eine breite Palette an elektrischen Wafer-Testfunktionen, wie Antriebs- und Sensormessungen, Kapazitäts-Spannungstests, integrierte Schaltungstemperaturprüfungen und Gleichstrom-Nachwuchstests. Die Maschine bietet auch Testfähigkeit für Kontaktwiderstandsprüfung und Kontaktwiderstandskarte, dielektrische Konstantprüfung und Offsetspannungsprüfung. Seine fortschrittliche Kontaktmaschine ist in der Lage, den Kontaktwiderstand genau zu messen, was eine genaue Auswertung der Gerätekontakte und -verbindungen ermöglicht. In Bezug auf Genauigkeit und Wiederholbarkeit bietet das Werkzeug 0,2% Genauigkeit für Nkw-Messungen und 0.1V Empfindlichkeit der Messung. Es beseitigt die Abhängigkeit von der manuellen Ausrichtung und dem mühsamen Umschalten zwischen Sonden und ermöglicht eine effiziente Prüfung zahlreicher Gerätetypen mit minimalem Technikerbetrieb. Weitere Merkmale von SWB-156RL sind die automatische Skalierung der Messfähigkeit, die automatische Erkennung und Korrektur des Sondenoffsets sowie ein integriertes Softwarepaket mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche, Datensammlungen und Analysefunktionen. Für zusätzlichen Komfort wird das Gerät mit einem universellen Netzteil versehen, so dass es elektronisch von jeder Spannungsquelle (AC/DC) betrieben werden kann. Insgesamt ist NIHON BIONICS SWB-156RL ein einzigartiges und leistungsstarkes Wafertest- und Metrologiemodell, das hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit für kritische Wafertests bietet. Es ist ein unschätzbares Werkzeug für die Entwicklung von Halbleiterschaltungen, mit dem Ingenieure zuverlässige Hochvolumentests erzielen und ihre Konstruktions- und Fertigungsprozesse verbessern können.
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