Gebraucht NIKON FX-501F #293620093 zu verkaufen

NIKON FX-501F Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine vielseitige und leistungsstarke Technologie, die weltweit in Halbleiterherstellern und Laboren eingesetzt wird. Diese High-End-Technologie dient der Messung, Inspektion und Analyse der Oberfläche und internen Strukturen von Wafern, Chips und anderen Halbleiterbauelementen. Das System kombiniert zwei fortschrittliche Technologien - eine 2D-Oberflächenmesseinheit und eine 3D-Die-to-Database-Messmaschine -, um auch mit komplexen Wafern und Mikrochips präzise und zuverlässige Ergebnisse zu erzielen. FX-501F verwendet eine Kombination aus optischen Filtern und Spiegeln, um verschiedene topographische und geometrische Merkmale von Mikrostrukturen genau zu messen. Das Werkzeug kann die kleinen Oberflächenfehler erkennen und die Breite, Länge, Höhe und Unregelmäßigkeiten auf der Oberfläche des Geräts messen. Die Anlage hat auch die Fähigkeit, jede Ungleichmäßigkeit durch eine Reihe von verschiedenen Methoden zu erkennen, einschließlich Differential Interferenz Kontrast Mikroskop (DICM), ellipsometrische mikroskopische (EM), spektrale Peak Identifikation (SPI) und Halbleiter-Gehäuse Inspektion (CPI). Die fortschrittliche 6-Achsen-Stufe des Modells ermöglicht Präzisionsmessungen und 3D-Bildgebung. Die Stufe bewegt sich in allen drei Achsen und wird von hochgenauen Schrittmotoren geführt, die hohe Geschwindigkeiten mit hoher Auflösung und Wiederholbarkeit bieten. Darüber hinaus nutzt NIKON FX-501F fortschrittliche Optik, wie Laserstrahlscannen, was die Genauigkeit und Analysegeschwindigkeit erhöht. Dieses Gerät bietet auch zuverlässige Tests mit Wiederholbarkeit und Automatisierung, so dass es eine ideale Wahl für anspruchsvolle Wafer-Inspektion und Halbleitermesstechnik. FX-501F bietet außerdem eine Reihe von Funktionen zur Datenanalyse und -berichterstattung und ist damit eine effektive und effiziente Lösung für Wafertests und Messtechnik. Es kommt mit mehreren erweiterten Analysefunktionen, wie statistische Prozesskontrolle (SPC) Analyse, sechs Sigma-Analyse, automatisierte Oberflächenerkennung und Klassifizierung (ASRC), und automatisierte Matrize zu Datenbank-Analyse. Benutzer können auch benutzerdefinierte Berichte mit Echtzeitdaten hinzufügen, wodurch Sie maximale Kontrolle über Ihre Messergebnisse erhalten. Insgesamt ist NIKON FX-501F Wafer Testing and Metrology System eine leistungsfähige und zuverlässige Technologie für Wafer-Tests, Inspektionen und Analysen. Es bietet hochgenaue und wiederholbare Ergebnisse sowie eine breite Palette von Datenanalyse- und Berichtsfunktionen. Mit solchen fortschrittlichen Eigenschaften ist FX-501F ideal für Halbleiterhersteller und Laboratorien.