Gebraucht NIPPON NAFS-3070P #9078494 zu verkaufen

NIPPON NAFS-3070P
ID: 9078494
Weinlese: 2007
Non-contact 3D measurement device, 2007.
NIPPON NAFS-3070P Wafer-Prüf- und Messtechnik ist ein effizientes Werkzeug für eine Vielzahl von Aufgaben in der Halbleiter- und verwandten Branchen. Es ist ein mehrdimensionales System, das sowohl elektrische Tests als auch optische Inspektionen von Wafern und anderen Komponenten für moderne logische Integration und MEMS-Anwendungen durchführen kann. Die Wafer-Testfunktionen von NAFS-3070P umfassen Parametermessung von Power Device ICs, Geräuschmessungen, thermische Widerstandstests und Hochspannungsprüfungen zu 100V sowie Schalteigenschaften bei hohen Frequenzen. Das Gerät verfügt über bis zu sechs Testkanäle und bis zu vier Messmodule mit einem Hochgeschwindigkeits-Scan-Modul für jeden Kanal, der bis zu 60 Geräte pro Sekunde testen kann. Die optischen Inspektionsmöglichkeiten von NIPPON nutzen NAFS-3070P fortschrittliche Mikroskopie, optische Inspektion, 3D-Bildgebung und bildgebende Verarbeitungstechnologien. Es bietet die Möglichkeit, hochauflösende Bilder mit bis zu 1000x differentieller Vergrößerung in einem einzigen Schuss zu erfassen. Es ist auch mit einer integrierten Auto-Fokus-Maschine ausgestattet, die es ermöglicht, mehrere Rahmen für jede Probe zu nehmen, ohne den Fokus für jede Probe zurücksetzen zu müssen. NAFS-3070P bietet auch eine erweiterte Benutzeroberfläche, mit der Benutzer Tests schnell einrichten, Messeinstellungen zuweisen und Daten erfassen können. Das Tool bietet eine breite Palette von Report Export-Funktionen, einschließlich PDFs und EXCEL-Tabellen. Darüber hinaus verfügt NIPPON NAFS-3070P über umfassende Datenverwaltungsfunktionen, mit denen Daten schnell und einfach gespeichert und abgerufen werden können. NAFS-3070P Wafer-Test- und Messtechnik-Asset ist ein äußerst leistungsfähiges und vielseitiges Werkzeug für alle Arten von Halbleiter- und verwandten Anwendungen. Es bietet zuverlässige und effiziente Leistung und ist kostengünstig und einfach zu bedienen. Mit seinen erweiterten optischen Inspektionsmöglichkeiten, umfassenden Datenspeicher- und Managementfunktionen ist NIPPON NAFS-3070P eine gute Wahl für Halbleiterunternehmen, Forschungslabors und andere ähnliche Unternehmen.
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