Gebraucht NOVA 210 #9026298 zu verkaufen

NOVA 210 ist eine High-End-Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet wird, einschließlich Wafer-Level-Defekt-Inspektion, Wafer-Level-Ausbeute-Analyse, elektrische Parameterprüfung und Reticle-Mapping. Das System wurde entwickelt, um die höchste Genauigkeit in einer kurzen Zykluszeit durch den Einsatz fortschrittlicher Technologien zu gewährleisten. 210 ist mit einer einzigartigen optischen Einheit ausgestattet, die helle Feld- und Dunkelfeldbeleuchtung nutzt, um klare und hochgenaue Bilder von Wafern zu liefern. Diese Maschine ist mit einer Auswahl an Vergrößerungen erhältlich, die eine hochauflösende Abbildung kleiner Merkmale und Defekte ermöglichen. Das Gerät ist auch mit einer hochauflösenden Kamera ausgestattet, die die Aufnahme von detaillierten Waferbildern ermöglicht. NOVA 210 bietet eine Reihe fortschrittlicher Funktionen für die Fehleranalyse und Ertragsanalyse. Es ist mit einer Vielzahl von Algorithmen ausgestattet, einschließlich OCR und Muster-Matching, die helfen, auch die schwierigsten Fehler zu erkennen. Darüber hinaus kann das Werkzeug mit einer Reihe von externen messtechnischen Lösungen integriert werden, einschließlich Kathodolumineszenz und Rasterelektronenmikroskopie. Für die Prüfung elektrischer Parameter umfasst 210 die Bereitstellung von Fähigkeiten sowohl für das kontaktlose als auch für das berührungslose Scannen. Der Hochgeschwindigkeitskontaktscan ermöglicht präzise Messungen der elektrischen Parameter von Wafergeräten und Schaltungen, während das berührungslose Verfahren eine schnelle Analyse einer großen Anzahl von Geräten mit minimalem Kontakt ermöglicht. NOVA 210 ist auch in der Lage, Reticle Mapping durchzuführen. Diese Fähigkeit ermöglicht die Analyse der Beziehung zwischen den verschiedenen Musterbereichen auf dem Wafer mittels fortgeschrittener Algorithmen. Das Asset ist flexibel und bietet eine Vielzahl von Optionen für Datenerfassung, -analyse und -präsentation. Insgesamt ist 210 ein High-End-Wafer-Test- und Messtechnik-Modell, das für zahlreiche Anwendungen konzipiert wurde, von der Ausbeuteanalyse über die Prüfung elektrischer Parameter bis hin zum Reticle Mapping. Es ist mit fortschrittlichen Funktionen ausgestattet, die eine präzise Fehleranalyse ermöglichen und Flexibilität für die groß angelegte Datenerfassung bieten. NOVA 210 ist die ideale Wahl für diejenigen, die eine zuverlässige und fortschrittliche Ausrüstung für Tests und Messtechnik benötigen.