Gebraucht NOVA NovaScan 3060 #293655413 zu verkaufen

NOVA NovaScan 3060 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für High-End-Technologie-Knoten. Es bietet umfassende Wafermesstechnik und Fehlerinspektionslösungen für die Halbleiterproduktion. Die Scantechnologie des Systems vereint optische Leistung und Stabilität und gewährleistet höchste Genauigkeit in der Wafermesstechnik und bei der Fehlerinspektion. Das Gerät ist mit einem adaptiven Fokusmechanismus und der Enhanced Current Imaging (ECI) -Technologie ausgestattet, um einen hervorragenden Bildkontrast und eine hervorragende Auflösung zu bieten. Darüber hinaus bietet die Maschine drei Hochgeschwindigkeits-Scan-Techniken: Standard, Burst und gleitende Scan-Modi. NovaScan 3060 verwendet ein optisches Mikroskop mit einem langen Arbeitsweg, der für jede Anwendung optimiert ist. Es verfügt zudem über ein integriertes Wafer-Handling-Tool, das eine automatisierte Handhabung von Wafern bis zu zwölf Zoll Durchmesser bietet. Die Anlage ist außerdem mit einem hochdichten Polarisationsfilter ausgestattet, um ein exaktes Polarisationsprofil für die hochauflösende Bildgebung zu gewährleisten. NOVA NovaScan 3060 ist in der Lage, Bilder von Teststrukturen und Defekten auf Submikron-Ebenen zu erfassen und eine präzise Positionierung von Sonden zu ermöglichen. Es enthält ein multispektrales Mehrwinkel-Messtechnik-Modell mit einfach zu bedienender, anpassbarer Software, mit der Benutzer schnell Bild- und Messtechnik-Daten erfassen können. Das Gerät verfügt zudem über einen hohen Durchsatz von bis zu 200 Wafern pro Stunde und eine Gesamtgenauigkeit von ± 2 μ m. NovaScan 3060 ist mit einer Reihe von Algorithmen zur Bildverbesserung ausgestattet, wie Schärfen, Dunkelfeld-, Kontrast- und Farbsättigungsanpassungswerkzeuge. Darüber hinaus ermöglicht das System dem Benutzer, Wafer-Bilder in mehreren Auflösungen zu speichern, um die Anwendung am besten anzupassen und Wafer zu überprüfen, ohne erneut zu scannen. Insgesamt ist NOVA NovaScan 3060 eine fortschrittliche Wafer-Test- und Messtechnik-Einheit, die mit ihrer Kombination aus bildgebenden Funktionen und intuitiver benutzerfreundlicher Software überlegene bildgebende Leistung, Genauigkeit und Produktivität bietet.