Gebraucht NOVA NovaScan 3090 Next SA #293761312 zu verkaufen

ID: 293761312
Wafergröße: 12"
Critical Dimension (CD) measurement system, 12".
NOVA NovaScan 3090 Next SA ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für die Großserienproduktion in der Halbleiterindustrie. Es ist mit dem Ziel konzipiert, den Gesamtdurchsatz und den Durchsatz pro Datenpunkt zu optimieren, um die Effizienz des Testprozesses zu maximieren. Das System nutzt fortschrittliche Scantechnologie, einschließlich Oberflächenprofilentnahme und automatisierte Probenanalyse, um hochgenaue Ergebnisse zu liefern. Es umfasst eine Reihe von Substraten, einschließlich Silizium, Verbindungshalbleiter und Metalloxid. Der Wafer kann eine Reihe von Größen enthalten, von 200mm bis 8 ". NOVA NOVASCAN 3090 NEXTSA bietet mehrere Scangeschwindigkeiten, die eine große Produktion ermöglichen. Ein Hochgeschwindigkeits-XY-Scanner bietet Nanometer-Genauigkeit der Probenoberfläche, während ein schnellerer direkt gelesener XY-Scan zur ummetrischen Oberflächenprofilmessung und konsistenten automatisierten Probenanalyse integriert ist. Um Genauigkeit und Geschwindigkeit zu gewährleisten, erhöht das integrierte Kalibriermodul die Produktionssicherheit und ermöglicht eine schnelle Datenanalyse. Fortschrittliche Bewegungssteuerungs- und Heftsysteme sowie optimierte Software ermöglichen eine ordnungsgemäße Bewegungssteuerung beim Scannen. Darüber hinaus nutzt seine benutzerfreundliche Oberfläche große farbige Touchscreen-Steuerelemente und generiert automatisch Berichte mit numerischen Daten mit Histogrammen, Streuungsplänen und Zeitstempeln. Darüber hinaus verfügt NovaScan 3090 Next SA auch über spezialisierte Software und Hardware zur Messung und Auswertung der Wafer-Topographie. Das Gerät nutzt einen konstanten UV-Laser mit einer beeindruckenden Leuchtweite von bis zu 20 Metern, der eine hochpräzise Firstbreitenmessung und automatisierte Bildanalyse ermöglicht. Insgesamt ist NOVASCAN 3090 NEXTSA eine hochpräzise Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die auf die Maximierung der Produktivität und Prozesseffizienz für die großflächige Halbleiterproduktion ausgelegt ist. Die fortschrittlichen Scan- und Analysetechnologien ermöglichen hochgenaue und schnelle Ergebnisse.
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