Gebraucht NOVA NovaScan 3090 Next SA #9233450 zu verkaufen

NOVA NovaScan 3090 Next SA ist ein leistungsstarkes Wafer-Prüf- und Messtechnikwerkzeug, das für die anspruchsvollen Anforderungen an die Prozesssteuerung bei der Herstellung von Halbleiterscheiben der nächsten Generation entwickelt wurde. Das Gerät ist mit einer voll ausgestatteten Softwareplattform ausgestattet, die eine hervorragende Genauigkeit und Wiederholbarkeit bietet, um eine konsistente Prozesskontrolle vom Wafer-Start bis zum Wafer-Finish zu gewährleisten. NOVA NOVASCAN 3090 NEXTSA verwendet leistungsstarke Laserscanner für die Top-Down und Bottom-Up Inspektion. Dies hilft, potenzielle Fehler am Wafer mit minimalem Zeit- und Kostenaufwand schnell zu erkennen. Diese laserbasierte Detektion stellt sicher, dass auch kleinere defekte Partikel während des Inspektionsprozesses detektiert werden können, was zur Verringerung von Ertragsverlusten im Zusammenhang mit potentiellen Wafer-Herstellungsfehlern beiträgt. NovaScan 3090 Next SA unterstützt auch das Scannen einer Vielzahl verschiedener Wafergrößen und -formen, darunter 200mm, 300mm, 500mm und größer. Das System kann so programmiert werden, dass es die Größe und Form des Wafers automatisch erkennt und anschließend die Fläche oder die interessierenden Bereiche scannt. Dies trägt dazu bei, dass alle Bereiche des Wafers gründlich auf mögliche Mängel untersucht werden. Die von NOVASCAN 3090 NEXTSA verwendete Softwareplattform unterstützt eine breite Palette von messtechnischen Anwendungen, einschließlich Fehler- und Verschmutzungserkennung, Fehlerhärtegradierung, Linienbreitenmessungen, Overlay-Messungen und kritischen Dimensionen (CD). Die Software ist in der Lage, Daten aus mehreren Wafer-Inspektionsläufen zur Qualitätssicherung (QS) zu sammeln, zu analysieren und zu speichern. NOVA NovaScan 3090 Next SA kann auch mit hochpräzisen optischen Mikroskopen für genaue CD-Messungen ausgestattet werden. Dadurch wird sichergestellt, dass das Gerät Funktionen mit höchster Genauigkeit bis zum Submikronpegel messen kann. Auch in der physikalischen Auslegung ist NOVA NOVASCAN 3090 NEXTSA kompakt, effizient und ergonomisch. Das Gerät nimmt minimalen Platzbedarf ein und ist so benutzerfreundlich wie möglich konzipiert, so dass der Bediener verschiedene Prüf- und Messaufgaben schnell und präzise durchführen kann. Insgesamt ist NovaScan 3090 Next SA ein fortschrittliches Wafer-Test- und Messtechnikgerät, das eine zuverlässige Prozesskontrolle bietet, um die Produktion von Halbleiterprodukten höchster Qualität sicherzustellen. Das Gerät bietet leistungsstarke Laserscanningfunktionen, eine vielseitige Softwareplattform und hochpräzise optische Mikroskope für CD-Messungen, mit denen selbst kleinste potenzielle Defekte genau erkannt werden können. Das ergonomische Design und der effiziente Hallenplan der Maschine tragen auch dazu bei, die Produktivität im Waferinspektionsprozess zu maximieren.