Gebraucht NOVA NovaScan 3090 Next #293654378 zu verkaufen

ID: 293654378
Critical Dimension (CD) measurement system.
NOVA NovaScan 3090 Next Wafer Metrology Equipment ist ein hochauflösendes, präzises automatisiertes System, das entwickelt wurde, um Halbleiterchips oder Wafer schnell und genau zu messen, zu analysieren und zu inspizieren. Dieses Gerät ist in der Lage, bis zu 4 „und 6“ Wafer schnell und präzise zu testen und bietet eine Reihe von Optionen, darunter automatisierte Neigungsserien und bidirektionales Scannen. NovaScan 3090 Next nutzt eine fortschrittliche optische Mikroskopie-Maschine mit einem automatisierten Wafer-Slide-Handler mit 14 Positionen. Dies ermöglicht Schnelltests, die eine Reihe von Merkmalen messen, einschließlich kritischer Abmessungen und Überlagerungen, Waferkontur und Ebenheit, durchschnittliche Rauheit und Mikrodefekte. Dieses Tool bietet eine hervorragende Flexibilität für die Integration in eine Reihe automatisierter Systeme, die eine einfache und vollständige Verwaltung des gesamten Prüf- und Inspektionszyklus ermöglicht. Diese Ressource basiert auf einem innovativen Präzisionsmikroskop, das eine extrem hohe Auflösung und Genauigkeit bietet. Das überlegene Optikmodell bietet maximale optische Leistung und konstant genaue Messwerte unabhängig von der Position innerhalb des Mikroskops oder der Oberfläche des Chips. Dies wird durch eine automatische Bilderfassung unterstützt, die zur weiteren Gewährleistung von Genauigkeit und Zuverlässigkeit dient. Darüber hinaus wurde NOVA NovaScan 3090 Next entwickelt, um den hohen Anforderungen der Wafertests und Messtechnik gerecht zu werden. Dieses Gerät bietet hochentwickelte Bildverarbeitungsfunktionen und automatisierte Steuerung für Datenerfassung, -analyse und -berichterstattung. Die Software enthält eine breite Palette von Optionen zur Anpassung des Systems an die Anforderungen spezifischer Anwendungen, die Datenanalyse und Berichterstattung über verschiedene Faktoren ermöglichen. Mit diesen Daten kann eine hochwertige messtechnische Lösung entwickelt werden, die auf die genauen Anforderungen der Anwendung zugeschnitten ist. NovaScan 3090 Next Wafer Metrology Unit ist eine fortschrittliche und leistungsstarke Maschine, die ein hohes Maß an Genauigkeit und Präzisionsprüfung, Analyse und Inspektion bietet. Dieses Tool wurde entwickelt, um den anspruchsvollen Anforderungen der Präzisionswafer-Prüfung und Messtechnik gerecht zu werden und ist ideal für eine breite Palette von Anwendungen.
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