Gebraucht NOVA NovaScan 3090 #293663062 zu verkaufen

NOVA NovaScan 3090 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine genaue und wiederholbare Analyse von Halbleiterscheiben bis 300 mm Durchmesser ermöglicht. Es ist ein fortschrittliches Werkzeug, das Standard-elektrische Charakterisierung und neue berührungslose optische Technologien, wie polarisierte Lichtinterferenzmikroskopie kombiniert. NovaScan 3090 ermöglicht eine schnelle Prüfung von Halbleiterbauelementen auf Einheitlichkeit, Gleichmäßigkeitsqualifikation und zerstörungsfreie Messtechnik. Es verwendet ein 12-Achsen-Positioniersystem, gekoppelt mit einer breiten Palette von Messsensoren, um eine präzise, wiederholbare Positionierung bis hin zur Nanometer-Genauigkeit zu ermöglichen. Seine Hauptstufe ist mit verschiedenen Prüfsubstraten und -materialien kompatibel. NOVA NovaScan 3090 enthält auch ein optisches Messtechnik-Subsystem, das durch fortschrittliche Bildgebung und polarisierte Lichtinterferenzmikroskopie angetrieben wird. Dies ermöglicht eine berührungslose, optische Analyse von Wafern mit ausgezeichneter Auflösung und Wiederholbarkeit. Darüber hinaus umfasst die Messtechnik ein automatisiertes Mustererkennungsmodul, das Merkmale auf Wafern automatisch identifiziert und deren Eigenschaften quantifiziert. NovaScan 3090 verfügt auch über eine eingebaute Automatisierungsmaschine, die es Anwendern ermöglicht, es einfach mit anderen Post-Test-Geräten von einem einzigen, einheitlichen Controller zu integrieren. Das Werkzeug ist zudem hochprogrammierbar und ermöglicht eine schnelle Anpassung an verschiedene messtechnische und Testaufgaben. Darüber hinaus ermöglicht eine spezielle Validierungs-Toolbox Anwendern die einfache Durchführung einer Reihe von Messtechnik und Testsimulationen. Darüber hinaus umfasst NOVA NovaScan 3090 auch ein automatisiertes Wafer Handling-Asset, das einen sicheren und effizienten Weg zum Transport von Wafern zum und vom Metrologie-Subsystem bietet. Darüber hinaus umfasst das Modell eine fortschrittliche Umwelt- und Sicherheitsausrüstung, um sicherzustellen, dass Benutzer vor jeder gefährlichen Umgebung geschützt sind. Zusammenfassend ist NovaScan 3090 ein fortschrittliches Wafer-Test- und Messtechnik-System, das Anwendern eine genaue und wiederholbare Test- und Messtechnik-Analyse von Halbleiterscheiben ermöglicht. Die Kombination aus Standard-elektrischer Charakterisierung und fortschrittlichen optischen Messtechnologien sowie automatisierten Wafer-Handling und Umweltschutzsystemen machen es zu einer idealen Wahl für jedes Halbleiter-Testlabor.