Gebraucht NOVA NovaScan 3090 #9228371 zu verkaufen

NOVA NovaScan 3090 ist eine komplexe und spezialisierte Wafer-Prüf- und Messtechnik, die den Anwendern genaue und zuverlässige Messungen der kritischen Abmessungen ihrer Halbleiterscheiben ermöglicht. Die 3090 ist ein automatisiertes System, das in der Lage ist, schnell und zuverlässig eine Vielzahl von Wafern zu analysieren, einschließlich Silizium-auf-Isolator (SiOI) Substrate und andere fortschrittliche Materialien. Diese Einheit verwendet berührungslose Wirbelstrom- und Kapazitätsverschiebungssensoren, um die physikalischen Merkmale eines Wafers mit hoher Genauigkeit zu messen. Diese Sensormaschine basiert auf einem invertierten optischen Profilometer und hat eine Genauigkeit von 30 Nanometern in x-Achsrichtung und bis zu 1 Mikrometer in y-Achsrichtung. NovaScan 3090 wurde entwickelt, um Fehler schnell zu erkennen und zu analysieren sowie die physikalische Dimension des Wafers genau zu messen. NOVA NovaScan 3090 verwendet ein Softwarepaket, mit dem Benutzer das Tool einfach für ihre spezifischen Wafer- und Technologieanforderungen konfigurieren können. Das Softwarepaket ermöglicht es Anwendern, Messkriterien festzulegen, Datendateien zu verarbeiten und detaillierte Analyseberichte zu erstellen. Darüber hinaus kann das Softwarepaket programmiert werden, um die Entwicklung automatisierter Test- und Fehlerinspektionsroutinen zu unterstützen. NovaScan 3090 ist mit einer Vielzahl von Werkzeugen ausgestattet, die seine Leistung verbessern. Es verfügt über eine manuelle und eine automatisierte Etappenanlage sowie eine erweiterte Mustererkennungssoftware. Mit diesen Werkzeugen kann das Modell die Defektivität verschiedener Wafer schnell und effizient beurteilen. Die automatisierte Bühnenausrüstung ermöglicht es beispielsweise, mehrere Drucke in verschiedenen Winkeln oder Tiefen schnell zu erfassen. NOVA NovaScan 3090 ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Wafertest- und Messtechniksystem. Es verfügt über eine Vielzahl von anspruchsvollen Werkzeugen, die es Anwendern ermöglichen, die physikalischen Eigenschaften ihrer Wafer genau und zuverlässig zu messen. Durch die Verwendung fortschrittlicher Mustererkennungssoftware und automatisierter Bühnensysteme bietet dieses Gerät Benutzern die Möglichkeit, Fehler schnell und genau zu erkennen und zu analysieren sowie die physikalischen Abmessungen ihrer Wafer zu messen. Die einfache Bedienung der Maschine und hochgenaue Messungen machen sie zu einer idealen Wahl für jede Anwendung mit Wafertest und Messtechnik.