Gebraucht NOVA NovaScan 420 #9077702 zu verkaufen

NOVA NovaScan 420 ist ein Messsystem zur Prüfung und Analyse von Halbleiterscheiben. Es verwendet fortgeschrittene optische Interferometer, um hochpräzise Messungen mit unübertroffener Wiederholbarkeit und Genauigkeit zu erhalten. NovaScan 420 hat zwei verschiedene Teile - ein optisches Interferometermodul und eine spezielle Ausrichtstation. Das optische Interferometermodul umfasst die optoelektronische Komponentenplattform, den optischen Wegrahmen, das Beleuchtungswerkzeug, die automatisierte Subtraktion und die optischen Profilometer-Komponenten. Die Ausrichtstation ist dort, wo die Wafer montiert und die Messungen durchgeführt werden. Die Station dient auch dazu, das System zu kalibrieren und die Ausrichtungsgenauigkeiten in einer hohen Präzision zu halten. Das optische Interferometer von NovaScan 420 ist in präzise automatisierte Stufen für die Wafer-Kartierung integriert, mit denen Anwender die Topographie jeder Waferoberfläche schnell und genau messen können. Es enthält auch eine Reihe von Software-Tools, mit denen Benutzer eine Vielzahl von Messungen durchführen können, einschließlich Oberflächenrauhigkeit, Scheibentiefe, Führungsnut, Eckstrukturen und Schritthöhen. Darüber hinaus umfasst NovaScan 420 softwaregesteuerte Mikroskopie und Bildanalysetools für die elektronische Fehleranalyse. Auf diese Weise können Anwender Ertrags- und Strukturierungsteilnehmer finden und charakterisieren oder fehlerhafte Bereiche auf der Waferoberfläche schnell und genau identifizieren. Die umfassende Palette von Messwerkzeugen, die in NOVA NovaScan 420 integriert sind, bietet genaue messtechnische Funktionen zur Überwachung der Leistung einer Vielzahl von Produkten, von aktiven Komponenten bis hin zu Glassubstraten. Es unterstützt eine Vielzahl von Wafergrößen (bis zu 12 Zoll) und kann bis zu 24 Waferträger aufnehmen. Alles in allem ist NovaScan 420 eine fortschrittliche Wafer-Test- und Messtechnik-Lösung, die in einer Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden kann. Das optische Interferometer und die automatisierten Stufen machen hochpräzise Messungen schnell und präzise, während die Bildanalysefähigkeit Zugriff auf wertvolle Halbleiterinformationen gibt. All diese Funktionen machen NOVA NovaScan 420 zu einer idealen Lösung für die moderne Halbleiterindustrie von heute.