Gebraucht NOVA V2600 #9233453 zu verkaufen

NOVA V2600 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein hochpräzises, automatisiertes Wafer-Prüf- und Messtechnik-Messsystem, das zuverlässige, genaue und wiederholbare Ergebnisse liefert. Es integriert hochauflösende optische Mikroskopie mit der neuesten automatisierten Inspektions- und Fehlererkennungssoftware und bietet eine effiziente und kostengünstige drahtlose Bildgebungslösung. V2600 können die Gleichmäßigkeit und Dicke einer Reihe von Wafermaterialien einschließlich Silizium, Glas und Keramik genau messen. NOVA V2600 nutzt Kontaktbildmessung (CIS), Laserscanning und Rasterelektronenmikroskop (SEM) -Technologien, um die Oberfläche eines Wafers genau zu überprüfen und zu analysieren. Diese Art der Messtechnik ist vorteilhaft in Anwendungen wie Fehlererkennung, virtuelles Mapping und die Überwachung von Prozessparametern. V2600 verfügt auch über eine Reihe von automatisierten Sichtsystemen, um die Oberflächenmerkmale von Wafern zu messen. Dazu gehören automatisierte Roboter-Wafer-Handler, Kantenerkennungssysteme und eine Vielzahl patentierter Beleuchtungstechniken. NOVA V2600 verfügt über eine Reihe von Hardware-Funktionen, einschließlich 4-Achsen-Scan-Funktionen, hochauflösende optische Mikroskopie mit bis zu 500x Vergrößerung, eine voll integrierte Vision-Einheit, und präzise Wafer Positionierung Genauigkeit bei einer ganzen Reihe von linearen und Winkelbewegungen. Darüber hinaus kann die Maschine Proben bis zu 12 Zoll unterstützen und liefert Echtzeit-Feedback und Ergebnisberichte. Weitere Hauptmerkmale von V2600 sind das räumliche Mapping, das 2D- und 3D-Mapping von Fehlern, die Stufenanpassung zum Ändern der Wafer-Positionierung und die Echtzeit-Verfolgung von Prozessparametern. Dieses Werkzeug ist ideal für Wafer-Inspektion, Messtechnik und Prozesskontrolle Anwendungen, da es Stempel-zu-Stempel-Variationen messen, direkte Fehlererkennung und Ertragsverluste im Zusammenhang mit Partikelverunreinigungen reduzieren kann. Darüber hinaus können defekte Wafer aus dem Inspektionsprozess zurückgerufen und überarbeitet werden, was eine vollständige Prozesskontrolle und optimale Produktqualität gewährleistet. NOVA V2600 Wafer Testing and Metrology Asset ist ein fortschrittliches und zuverlässiges Modell zur Erzielung präziser und wiederholbarer Wafertests und messtechnischer Messungen. Es bietet eine kosteneffiziente und präzise Möglichkeit, zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse über eine Reihe von Materialien zu erzielen. Die umfassende Palette an Hardware- und Softwarefunktionen ermöglicht präzise und wiederholbare Wafertest- und messtechnische Messungen, reduziert Ertragsverluste und verbessert die Produktzuverlässigkeit.