Gebraucht NOVASCAN 210 #9224124 zu verkaufen

NOVASCAN 210 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für hochpräzise Oberflächenanalysen, Fehlerinspektionen und Maßmessungen von Waferproben entwickelt wurde. Es verfügt über eine Vielzahl von Sensoren für die Oberflächenbildgebung und verschiedene andere Verfahren, wie Laser Scanning Microscopy (LSM), Photon Scanning Microscopy (PSM), Electron Beam Microscopy (EBM) und Atomic Force Microscopy (AFM). Das System enthält auch die Software Automated Defect Detection (ADD), die eine eingehende Charakterisierung kleiner Fehler und eine Gleichmäßigkeitsmessung ermöglicht. Mit Energie-dispersive Röntgen (EDX) Fähigkeiten, 210 kann elementare Zusammensetzung messen und führt chemische Identifizierung von Defekten oder Verunreinigungen in Materialien. Das Gerät basiert auf einer optischen Plattform mit einer großflächigen Digitalkamera, einer empfindlichen Optik und einer motorisierten Portalmontagemaschine. NOVASCAN 210 eignet sich für die ultrahochauflösende Abbildung von großformatigen Wafern und Proben und verfügt über eine integrierte Probenpositionierungsstufe, die eine schnelle und genaue Einstellung der Position der Probe ermöglicht. Die wenigen Komponenten, der große Arbeitsbereich, die schnelle Ausrichtung und die Feldabflachung machen die Maschine zu einer idealen Wahl für die Produktionsunterstützung. Das Softwarepaket umfasst auch Hochgeschwindigkeits-Scannen und Visualisierung, grundlegende Mustererkennung und erweiterte Vergleichswerkzeuge. Insgesamt ist 210 eine ideale Lösung für eine breite Palette von Wafertest- und messtechnischen Anwendungen und wurde entwickelt, um zuverlässige und genaue Messungen in einer schnellen und einfach zu bedienenden Verpackung bereitzustellen. Es ist ideal für eine Vielzahl von Prozessen und Anwendungen, einschließlich Fehleranalyse, Prozessüberwachung, Wafer-Lithographie, parametrische Prüfung, Qualitätskontrolle und andere.