Gebraucht NOVASCAN 210 #9284368 zu verkaufen

NOVASCAN 210 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die Prüfung und Inspektion von integrierten Schaltungen auf Waferebene konzipiert ist. Das System verwendet eine fokussierte Ionenstrahlkanone, um die Topographie jeder Waferoberfläche abzubilden, um elektrische und physikalische Eigenschaften einzelner Komponenten zu bestimmen. Die Einheit besteht aus einer Hochvakuumkammer, einer Computermaschine, einer Ionenquelle, einem Objektivsatz, einem Abbildungswerkzeug und einem Strahlablenker. Die Vakuumkammer ist aus hochwertigem Edelstahl gefertigt und soll eine Vakuumumgebung für die Struktur und die Komponenten im Inneren bieten. Der Computer steuert alle Komponenten und zeichnet Daten aus dem Instrument auf. Die Ionenquelle enthält ein oder mehrere geladene Teilchen, wie Xenon, Argon oder Helium, die von den Linsen fokussiert und durch den Strahlablenker gelenkt werden. Das Abbildungsmodell zeichnet die Größe und Position der Komponenten auf dem Wafer auf und verwendet die resultierenden Informationen, um die elektrischen und physikalischen Eigenschaften der Komponenten auf dem Wafer zu bestimmen. Das Gerät hat eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich der Identifizierung und Position von defekten Komponenten, Fehleranalyse und Fehleranalyse. Es kann auch verwendet werden, um Kurzschlusswege zu identifizieren, Gateoxidausfall zu diagnostizieren und zu korrigieren, Dielektrizitätskonstante zu messen und Verarmungsschicht und Kanalstromleckage zu messen. Das System eignet sich auch zur Beurteilung des Einflusses von Prozessen auf einen Wafer oder ein Bauteil, wie thermische und elektrische Spannung, dielektrische Isolation und elektrostatisch induzierte Ladung. Das Gerät ist auf eine Vielzahl von Wafern und Komponenten wie GaAs, Silizium, SiGe und SOI anwendbar. Die Maschine kann verwendet werden, um nanoskalige Merkmale und Oberflächentopographie von Bauteilen mit Nanometergenauigkeit zu messen, was ein hohes Maß an Kontrolle ermöglicht. Das Werkzeug ist auch in der Lage, eine breite Palette von elektrischen Parametern mit hoher Genauigkeit zu messen, wie Schwellenspannung, Zugriff und Einschaltspannung, und Sub-Mikron-Gate-Längen. 210 ist ein fortschrittliches Gerät für Wafertests und Messtechnik, das dem Anwender eine breite Palette von Funktionen und Anwendungen bietet. Es ist ein ideales Werkzeug zum Testen und Inspizieren integrierter Schaltungen und bietet eine zuverlässige und genaue Möglichkeit, elektrische und physikalische Eigenschaften einzelner Komponenten zu bestimmen.