Gebraucht NOVASCAN 420 #9282488 zu verkaufen

ID: 9282488
Systems P/N: 210-48000-00 P/N: 210-48000-01.
NOVASCAN 420 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die genaue und zuverlässige Messungen für fortschrittliche Wafermaterialien und -produkte bereitstellt. Es wurde entwickelt, um die Leistung von Mikrostrukturen auf Waferoberflächen zu überprüfen, zu analysieren und zu berichten. Dieses System ist in der Lage, physikalische Parameter wie Ebenheit, Kette, Plattendicke, Peak-to-Valley, Bogen, Stress und Stress Doppelbrechung zu messen. 420 ist eine automatisierte optische Messtechnik, die einen ganzheitlichen Ansatz für Wafertests und Messtechnik bietet. Die bordeigenen Diamantdrehmaschinen zeichnen sich durch eine hochgenaue berührungslose Messung von Waferoberflächen mit multimodaler intelligenter 3D-Abbildung der Zieloberfläche aus. Die 3D-Bildgebungstechnologie ermöglicht die schnelle Erkennung und sofortige Analyse von oberflächenartigen und strukturierten Informationen, mit denen potenzielle Defekte wie Partikel, Kratzer, Verzug usw. diagnostiziert werden können. Darüber hinaus ist NOVASCAN 420 mit fortschrittlichen Machine-Learning-Algorithmen und Computer-Vision-Verarbeitung ausgestattet, die es ermöglichen, Fehler und Defekte in Echtzeit zu erkennen und zu erkennen. Fortschrittliche Parametrierungstechniken und Kantenerkennungsalgorithmen werden verwendet, um eine detaillierte Analyse der Wafereigenschaften bereitzustellen. Diese Merkmale ermöglichen die schnelle Bestimmung von Materialeigenschaften wie Brechungsindex, optischen Eigenschaften und Oberflächenzusammensetzung. Außerdem kann die Maschine verwendet werden, um Parameter wie Oberflächenmorphologie, Topographie, Profil und Linienbreite zu messen. Diese Maschine kann auch für Dickenprofile von bis zu 10um/mm mit Linienbreitenauflösungen bis zu 60nm verwendet werden. Zusätzlich zu diesen Funktionen bietet 420 auch eine robuste Reihe von Analysetools, die eine statistische Analyse der Messdaten unterstützen. Diese Tools umfassen Leistungsspektraldichte und Autokorrelationsmessungen, die verwendet werden können, um große Entfernungsschwankungen in der Waferoberflächengeometrie zu erkennen. Das Tool kann auch bis zu 10.000 hochauflösende Bilder von Wafern in seinem On-Board-Speicher speichern. Insgesamt ist NOVASCAN 420 ein fortschrittliches, multifunktionales Asset, das eine genaue und zuverlässige Wafertestung und Messtechnik ermöglicht. Es bietet eine einfach zu bedienende Plattform, die dazu beiträgt, die Ergebniszeit zu reduzieren und die Prozesskonsistenz zu verbessern. Das umfassende Angebot an leistungsstarken Analysetools und technologischen Features macht 420 zu einer idealen Lösung für Forschungs- und Entwicklungslabore, Universitäten und Produktionsstätten.
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