Gebraucht NOVASCAN 840 #9229187 zu verkaufen

NOVASCAN 840 ist eine Hightech-Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine vollständige Palette von Fähigkeiten für Wafertests bietet. Das System bietet erweiterte messtechnische Funktionen, einschließlich 3D-Fehlerinspektion, Partikelanalyse, CMP-Studien (Chemical Mechanical Planarization) und Fehlerbewertung. 840 ist mit einer digitalen Videokamera und verschiedenen Arten von Lichtquellen ausgestattet und eignet sich somit perfekt für die Inline-Wafer-Inspektion. Es enthält eine einzigartige X, Y, Z-Bühnenbewegung, die Wafer schnell und präzise scannen kann. Das Gerät verwendet modernste Algorithmen, um Form und Größe verschiedener Teile der Wafer genau zu vergleichen. NOVASCAN 840 ist auch zur Fehleranalyse in der Lage. Es analysiert Defekte wie Verunreinigungen, Kratzer und Ätzmusterunregelmäßigkeiten, die auf Wafern festgestellt werden können. Dieses Verfahren ermöglicht eine verbesserte Ertragskontrolle sowie die Identifizierung von Bereichen, die mehr Aufmerksamkeit erfordern. Darüber hinaus ist 840 in der Lage, Wafer-Level-Messtechnik durchzuführen. Die Maschine kann Parameter wie dünnere als 1 Mikron-Merkmale, Linienbreitenvariation und hochauflösende Profile messen. Es ist auch in der Lage, unregelmäßige Oberflächen und/oder übermäßige Dickenänderungen zu erkennen. NOVASCAN 840 bietet auch verschiedene Arten von visuellem Feedback. Seine grafische Benutzeroberfläche bietet eine Reihe von Möglichkeiten zum Anzeigen und Analysieren der vom Tool gesammelten Daten. Dazu gehören Feature Maps sowie ein Split Screen Display Modus. 840 ist einzigartig auf die Bedürfnisse der Halbleiterindustrie ausgelegt. Insbesondere ist es in der Lage, Partikel, die nur 3,7 µm groß sind, genau zu detektieren. Darüber hinaus ist das Gut empfindlich genug, um eine Abweichung von der entworfenen Wafer-Topographie zu erkennen, die nur 0,2 µm hoch ist. Insgesamt ist NOVASCAN 840 ein leistungsstarkes und vielseitiges Wafer-Testwerkzeug, mit dem der Herstellungsprozess reibungslos am Laufen gehalten werden kann. Es kann auch verwendet werden, um Fehler zu finden und zu analysieren, um Ertragsverluste zu verhindern. Mit seinen fortschrittlichen messtechnischen Fähigkeiten kann es die Formen und Größen verschiedener Waferteile genau messen und visualisieren.