Gebraucht OHKURA FA3000 #9133034 zu verkaufen

OHKURA FA3000 ist ein Wafer-Prüf- und Messsystem, das eine schnelle und genaue Probenmessung und -prüfung ermöglicht. Dieses System ist auf einer kompakten Plattform aufgebaut und verfügt über eine hochgenaue x-y-Stufe, einen Hochgeschwindigkeitsprozessor und eine breite Palette an verfügbaren Messsensoren. Mit den entsprechenden Sensoren ist FA3000 in der Lage, physikalische Eigenschaften wie Profil, Dicke, Ebenheit, Oberflächenrauhigkeit, Verjüngung, Parallelität, Krümmung und Oberflächenverschmutzung sowie Materialeigenschaften wie Feuchtigkeit, Fließfähigkeit und Wärmeleitfähigkeit zu messen. OHKURA FA3000 ist mit einer hochpräzisen X-Y-Stufe und Luftlagern ausgestattet, die eine reibungslose und stabile Probenbewegung bieten und eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit ermöglichen. Die Bühne hat auch einen Arbeitsbereich mit einem Durchmesser von bis zu 200mm und einem maximalen Weg von 130mm. Darüber hinaus umfasst FA3000 erweiterte Funktionen zum automatischen Nivellieren und Anzeigen von Bildern, die einfach eingerichtet und mit beliebigen Layouts verwendet werden können, während verschiedene Beispielgrößen und -formen untergebracht werden. OHKURA FA3000 bietet Hochgeschwindigkeitsanalysen mit einem Multi-Core-Prozessor und ausgefeilten Algorithmen, einschließlich Bildverarbeitung, maschinellem Lernen und künstlicher Intelligenz. Dies gewährleistet eine schnelle und genaue Datenverarbeitung und -analyse. Darüber hinaus ermöglicht FA3000 Benutzern, ihre Testprozesse mit optionalen Schnittstellen anzupassen, zu denen USB, LAN und RS-232 gehören. OHKURA FA3000 bietet auch eine breite Palette von Messsensoren, die zur Messung physikalischer Eigenschaften verwendet werden können. Dazu gehören Laserverschiebungssensoren zur Messung von Profil, Dicke, Ebenheit und Verjüngung; Oberflächenrauhigkeitssensoren zur Bewertung der Oberflächenstruktur; und Umgebungssensoren zum Erfassen von Feuchtigkeit, Fließfähigkeit und Temperatur. FA3000 unterstützt auch den Einsatz verschiedener Vision-Systeme, darunter Line-Scan, Area-Scan und 3D-Systeme. Abschließend ist OHKURA FA3000 ein fortschrittliches Wafer-Prüf- und Messsystem, das hohe Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Geschwindigkeit bietet. Es kann für physikalische und materialeigenschaftliche Messungen mit einer breiten Palette von Messsensoren verwendet werden, und Benutzer können den Testprozess mit mehreren Schnittstellen und optionalen Sichtsystemen anpassen.