Gebraucht OKURA DP 2301A01 #9227172 zu verkaufen

OKURA DP 2301A01 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein fortschrittliches Test- und Messtechnik-Tool, das verwendet wird, um eine breite Palette von Halbleiterscheibeneigenschaften zu messen. Dieses Werkzeug ermöglicht eine schnelle Messtechnik und Inline-Prüfung von Wafern während der Fertigungsprozesse. Es verfügt über einen modularen Aufbau, mit dem bis zu vier Messtechnikköpfe und zwei Sonden gleichzeitig nanometergenau über die Waferoberfläche messen können. Das System kann verschiedene elektrische Parameter wie Linienbreite, Raumbreite, Spannungsschwelle, Wellenform, Impedanz usw. genau messen. Darüber hinaus lässt sich das Gerät problemlos in die wichtigsten Prozessleitsysteme integrieren, um eine automatisierte Rückmeldung der Produktionsabläufe zu ermöglichen. DP 2301A01 Maschine umfasst eine mehrachsige Bewegungsstufe mit einem integralen Scanhead. Dies gewährleistet eine hohe Präzisionsbewegung des Messtechnikkopfes, wobei die Genauigkeit innerhalb von 10 Nanometern bei der Abtastung der gesamten Waferoberfläche erhalten bleibt. Das Tool bietet auch 50 Meter pro Sekunde Scangeschwindigkeit und die Fähigkeit, Wafer so groß wie 200mm mit bis zu 4 Messtechnik-Köpfen und zwei Sonden zu scannen. Mit der integrierten Steuerungssoftware des Asset können umfassende Testverfahren auf die spezifischen Bedürfnisse der Wafer zugeschnitten werden. Es bietet sowohl Hardware- als auch Softwarebibliotheken zur Datenerfassung, Signalverarbeitung und Kalibrierung der Messtechnikköpfe. Es enthält zusätzlich I/O-Steuerung für Wafer-Handling und Prozessintegration, Echtzeitsteuerung und anpassbare Prozessautomatisierung sowie umfassende Reporting-Funktionen. OKURA DP 2301A01 Model bietet zudem ein integriertes Datenbankmanagement zur Speicherung von messtechnischen Ergebnissen. Dies ermöglicht es Benutzern, Trends in der Waferleistung im Laufe der Zeit zu überwachen und eine detaillierte Fehlerverfolgung zu erhalten. Es ermöglicht auch die Speicherung von Prozessspuren, die Erzeugung von Spuren und die statistische Steuerung. Darüber hinaus umfasst die Ausrüstung verschiedene Sicherheits- und Diagnosefunktionen, um die Hardware- und Software-Integrität zu schützen und einen ordnungsgemäßen Systembetrieb zu gewährleisten. Insgesamt ist DP 2301A01 Wafer Testing and Metrology Unit ein hochentwickeltes Werkzeug, das hochgenaue und zuverlässige Ergebnisse liefert. Der modulare Aufbau und die erweiterten Softwarefunktionen machen es zu einer leistungsstarken Lösung für die Anforderungen von Halbleiterherstellern und Forschungslabors an Wafertests und Messtechnik.