Gebraucht OLIN MICROELECTRONIC MATERIALS 25 #9036608 zu verkaufen

OLIN MICROELECTRONIC MATERIALS 25 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik für Halbleiterprodukte und Waferstrukturen. Dieses System ermöglicht es Anwendern, Dünnschichtdicken bis auf ein Nanometerniveau mit hoher Genauigkeit von ± 2% zu messen. Die Vorrichtung dient zum Testen mehrerer Wafer mit unterschiedlichen Mustern, wie Dünnschicht, Photoresist, Photolumineszenz, Photovoltaik und Diffusion. Das Gerät ist mit einem abgeschirmten Mikroskop, einer Röntgenquelle, einem Röntgendetektor, einem Auslöser und einem Manipulator zur Handhabung und Messung von Waferproben ausgestattet. Die Maschine basiert auf einer Röntgenfluoreszenz (XRF) -Technik. Dabei wird eine Probe mit Röntgenstrahlen bestrahlt, um aus den inneren Schalenübergängen der Atome innerhalb der Probe einen energetischen Elektronenstrahl zu erzeugen. Diese Elektronen regen dann die äußeren Schalenelektronen von Atomen an, die als fluoreszierende Röntgenstrahlen nachgewiesen werden. Dieses Fluoreszenzsignal dient zur Messung von Probendünnschichtdicken. Das Tool enthält auch andere Funktionen, wie Spektren-Mapping, 3D-Bildgebung und Filmanalyse. Das Spektren-Mapping-KE dient zur Analyse von Spitzenformen und relativen Intensitäten der detektierten Röntgenstrahlen. 3D-Bildgebung dient zur Messung von Querschnittsflächenprofilen und Ungleichmäßigkeiten des Materials. Zusätzlich wird das Filmanalysemerkmal zur Analyse der Zusammensetzung dünner Filme verwendet. Die Anlage ist in der Lage, Substrate mit einem Durchmesser von bis zu 200 mm zu messen, wobei die Probendicke von 1 Nanometer bis 10 Mikrometer reicht. Darüber hinaus ist das Modell auch mit einem optischen Encoder ausgestattet, der es dem Manipulator ermöglicht, die Proben in einer kontinuierlichen Bewegung um bis zu 360 ° zu drehen. Dies bietet Anwendern eine genauere und wiederholbare Datenmessung. 25 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die auf einfache und effiziente Weise hochgenaue Ergebnisse liefert. Dieses System ist ein großartiges Werkzeug zur Analyse und Optimierung neuer Materialkonstruktionen für industrielle Anwendungen.