Gebraucht OPTEK 712VA #9359053 zu verkaufen

OPTEK 712VA ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um genaue, zuverlässige und wiederholbare Messungen von physikalischen und elektrischen Parametern von Wafern und anderen Großmaterialien bereitzustellen. Das System konzentriert sich auf die Oberflächenmesstechnik und ermöglicht es Benutzern, eine Reihe von physikalischen und elektrischen Parametern von großflächigen Strukturen wie Wafern, Substraten und Werkzeugen zu messen. 712VA verwendet mehrere optische und Abtasttechniken, um die physikalischen und elektrischen Eigenschaften der Waferoberfläche zu messen. Es verwendet eine kombinierte Stiftprofilometrie und kapazitätsbasierte Bildgebungseinheit, um sowohl elektrische als auch physikalische Parameter wie Flächenwiderstand, Rauheit, Gleichmäßigkeit und Textur zu messen. Die Maschine verfügt über einen Large Surface 3D Profiler (LS3D) und einen Wafer Contact Profiler (WCP), die sowohl zur Abbildung physikalischer als auch elektrischer Eigenschaften von Waferoberflächen konzipiert sind. Der LS3D verwendet Soft-Contact-Stylus-Techniken, um eine detaillierte 3D-topographische Karte der Waferoberfläche zu erstellen, so dass Benutzer schnell hohe Genauigkeit und hohe wiederholbare Messungen des Wafers gewinnen können. Darüber hinaus kann der WCP den mittleren und minimalen Flächenwiderstand sowie Texturparameter wie Homogenität, Rauheit und Oberflächengleichförmigkeit messen. Um die Genauigkeit zu gewährleisten, verfügt OPTEK 712VA über eine umfassende Softwareplattform und eine Reihe automatisierter Kalibrier- und Kalibrierungs-Verifikationstools. Die Plattform ermöglicht es Benutzern, Wafer-Maps mit hoher Genauigkeit zu erstellen, so dass sie Wafer-Oberflächen besser charakterisieren können. Darüber hinaus bieten die automatisierten Kalibrier- und Verifizierungstools Anwendern schnelle und zuverlässige Ergebnisse in einer Vielzahl von Umgebungen. Insgesamt bietet 712VA Anwendern zuverlässige und wiederholbare Messungen physikalischer und elektrischer Eigenschaften von großflächigen Strukturen wie Wafern, Substraten und Werkzeugen. Das Tool bietet eine All-in-One-Plattform für die Oberflächenmesstechnik mit einer Reihe von optischen und Scantechniken und automatisierten Tools zur Verifizierung. Die Kombination aus Genauigkeit, Zuverlässigkeit, Geschwindigkeit und Automatisierung macht es zu einer idealen Wahl für eine breite Palette von Wafertests und messtechnischen Anwendungen.