Gebraucht ORC MEM-5296D #293642944 zu verkaufen

ORC MEM-5296D
ID: 293642944
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2002
Bump height measurement system, 8" 2002 vintage.
ORC MEM-5296D ist eine anspruchsvolle Wafer-Prüf- und Messtechnik für Halbleiterhersteller. Es verfügt über integrierte Hardware, Software und Techniken zur präzisen Messung der Wafereigenschaften. Das System kann Waferspannung, Oberflächenstruktur und andere mikroskopische Muster auf einem Bereich von Halbleitermaterialien messen. MEM-5296D ist mit einer hochauflösenden 5-Achsen-Stufe und einer automatisierten Messeinheit ausgestattet und eignet sich somit ideal für die hochpräzise Analyse kritischer Parameter wie Oberflächenrauhigkeit, Oberflächendefekt und Dickenvariation. Um genaue Daten zu gewährleisten, verfügt die Maschine über einen präzisen spielfreien Antrieb, eine starre Struktur und einen langen Fahrbereich für schnelle, genaue Messungen. Zusätzlich kann durch gleichzeitiges Scannen von bis zu vier Wafern eine große Messfläche abgedeckt werden. Das Tool ist mit modernster Hardware und Software ausgestattet, um ultrapräzise Ergebnisse zu garantieren. Die fortschrittliche Messoptik bietet eine hochauflösende Bildgebung mit einem breiten Sichtfeld, während die Echtzeit-Bildverarbeitung darauf ausgelegt ist, genaue Daten zu gewährleisten. Die automatische Stufe hilft bei der Steuerung der Probenposition mit einer Vielzahl von Bewegungsparametern und ermöglicht eine schnelle genaue Abtastung. Darüber hinaus ist ORC MEM-5296D mit mehreren Schnittstellen kompatibel und ermöglicht eine nahtlose Integration in bestehende Messtechnik-Systeme. Das Asset kann über analoge oder digitale Eingänge gesteuert werden und umfasst eine Ethernet- und USB-Schnittstelle zur einfachen Kommunikation mit Messgeräten. Darüber hinaus ist es mit LabVIEW für die automatisierte Datenanalyse und Berichtsgenerierung konform. MEM-5296D ist eine ideale Lösung für anspruchsvolle Anwendungen, die schnelle und genaue Gesamtmessfähigkeiten erfordern. Es kann für eine breite Palette von Anwendungen eingesetzt werden, einschließlich Oberflächencharakterisierung, Fehlererkennung, Niederspannungsbestimmung und Konturabbildung, unter anderem. Mit fortschrittlicher Software, Präzisionsoptik und effizientem Messmodell ist es die perfekte Wahl für jeden Halbleiterhersteller, der zuverlässige, genaue Wafertest- und Messtechnik-Lösungen benötigt.
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