Gebraucht ORC MEM-5296D #293643637 zu verkaufen

ORC MEM-5296D ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die durch die Verwendung von AFM (Atomic Force Microscopy) für die direkte Oberflächenwellenmessung hochpräzise Oberflächendaten bis zum Nanometerspiegel liefern kann, ohne dass eine Lithographie erforderlich ist. MEM-5296D ist darauf ausgelegt, die Wellenformen verschiedener Wafertypen direkt zu messen, und das AFM-System ermöglicht eine direkte Steuerung der Waferoberflächenwelle mit einem Auflösungspegel von bis zu 0,3 nm. ORC- MEM-5296D ist in der Lage, Wellendaten über die gesamte Oberfläche des Wafers bereitzustellen, mit zuverlässiger Wellen- und Wellenform-Berichterstattung bis zu einem 50 μ m Scan-Bereich. Die Einheit ist mit 2D-Planwellenanalysefunktionen ausgestattet, wodurch die Welleneigenschaften jeder Wellenform leicht analysiert werden können. MEM-5296D ist auch in der Lage, die Probe automatisch zu korrigieren und Verzerrungen aufgrund der Maschinenhardware oder Umgebungsbedingungen zu beseitigen. Diese automatische Korrekturfunktion, die sogenannte Scan-Ebenenwellen-Selbstkorrektur, liefert jedes Mal stabile und zuverlässige Ergebnisse. Das Tool bietet auch Datenverarbeitungs- und Wellenformanalyse-Funktionen durch seine integrierte Software, sowie grafische Darstellung von PE-Diagramm und Winkelspur für Wellenformverständnis. ORC MEM-5296D verfügt außerdem über eine benutzerfreundliche Touchscreen-Oberfläche für einfache Dateneingabe und -anzeige mit leistungsstarken Softwareanwendungen zur Optimierung des gesamten Mess- und Datenanalyseprozesses. MEM-5296D ist für den Einsatz in der Halbleiterbauelementfertigung, Qualitätsbewertung und Fehleranalyse zur Inspektion der Diffusionsprofilleistung konzipiert. Es ist in der Lage, den Anwendern eine hochpräzise dreidimensionale Konturkarte des Oberflächenprofils der Wafer zu liefern, was es zu einem unglaublich wertvollen Werkzeug für Hightech-Hersteller macht. ORC MEM-5296D bietet eine Vielzahl von Technologiefunktionen wie automatische Phasenanpassung, automatische Fokussierung, lineare Scan-Geschwindigkeitsregelung sowie softwaregesteuerte Automatisierungsoptionen, hochempfindliche Scan-Funktionen und GPIB/USB/RS-232 Kommunikationsfähigkeit. Mit diesen Merkmalen ist MEM-5296D ein wesentliches Modell zur Prüfung und Messung der Eigenschaften von Waferoberflächen.